[发明专利]一种对电子系统机内自检结果进行故障分析诊断的方法

说明书

本发明公开了一种对电子系统机内自检结果进行故障分析诊断的方法，包括如下步骤：S1，构建包含关联、相关参数和权重信息的故障分析诊断模型；S2，利用步骤S1构建的故障分析诊断模型得到与这些报故障的基础单元BU有信号关联的一组基础单元和它们之间的权重值；S3，设置一个权重值下门限，将权重值低于下门限的那些基础单元BU剔除掉；逐渐提高权重值的下门限，将逐步缩小与故障相关的基础单元BU的数量；S4，对步骤S3中保留下来的基础单元BU，按照权重值先后顺序进行更换和维修，从而能够快速排除电子系统的故障等；本发明可以减少对维修人员素质和经验的依赖，缩小故障排查范围，有效缩短排除电子系统故障的工作周期。

技术领域

本发明涉及电子系统故障分析诊断技术领域，更为具体的，涉及到一种对电子系统机内自检结果进行故障分析诊断的方法。

背景技术

电子系统通常都有机内自检(Built In Test，简称BIT)功能，但是鉴于软件和硬件的资源限制，一般来说BIT通道不是完全独立于工作通道的，因此，出现故障时，BIT结果包含了与故障单元相关联的较多的基础单元，排查范围比较大，还需要维修人员逐步验证，缩小范围直至找到发生故障的基础单元并进行更换或维修。该方法的排查周期较长，并且要求维修人员对系统组成原理要有相当的了解，具有一定的相关经验。

因此，很有必要采用一种比较科学、客观的方法来对BIT结果进行故障分析诊断，降低维修人员的素质和经验等人为因素的影响，缩小故障排查的范围，减少验证次数，缩短排除故障的工作周期。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种对电子系统机内自检结果进行故障分析诊断的方法，以解决背景技术中提到的问题。

本发明的目的是通过以下方案实现的：

一种对电子系统机内自检结果进行故障分析诊断的方法，对电子系统内部的基础单元BU进行编号后，执行如下步骤：

S1，基于基础单元BU之间信号的连接关系、流向，构建包含关联、相关参数和权重信息的故障分析诊断模型；

S2，当得到机内自检结果时报出的有故障的基础单元BU编号之后，利用步骤S1构建的故障分析诊断模型得到与这些报故障的基础单元BU有信号关联的一组基础单元和它们之间的权重值；

S3，设置一个权重值下门限，将权重值低于下门限的那些基础单元BU剔除掉；逐渐提高权重值的下门限，将逐步缩小与故障相关的基础单元BU的数量，从而缩小需要排查故障的基础单元BU的范围；

S4，对步骤S3中保留下来的基础单元BU，按照权重值先后顺序进行更换和维修，从而能够快速排除电子系统的故障。

进一步地，在步骤S1中，所述故障分析诊断模型中每个基础单元BU有一个唯一的编号。

进一步地，在步骤S1中，所述故障分析诊断模型，依据各个基础单元BU之间的信号连接关系和信号流向，每两个基础单元BU之间拥有一个关联值，该关联值至少表示有无信号关联以及信号流向信息。

进一步地，在步骤S1中，所述故障分析诊断模型，每两个信号关联的基础单元BU拥有一个参数值，该参数值至少包含这两个基础单元BU的影响度大小、故障易发程度信息的量化值之和，影响度大小与基础单元BU的信号关联数量、信号流上下游位置关联，故障易发程度与基础单元BU的复杂程度、以往故障发生频率关联。

进一步地，在步骤S1中，对所述的关联值和参数值进行加权计算，得到一个权重值。

进一步地，在步骤S4中，按照权重值由高至低的先后顺序进行更换和维修。

本发明的有益效果是：