[发明专利]一种侧向光光纤透镜的测量装置及其测量方法

说明书

本申请公开了一种侧向光光纤透镜的测量装置，包括XZ移动平台和XY移动平台，XZ移动平台上设置有可旋转地容纳管件，XY移动平台上设置有光探测卡，光探测卡的下方设置有光功率探头，且光探测卡的高度小于容纳管件的高度。本申请还提供采用侧向光光纤透镜的测量装置测量侧向光光纤透镜的出光角度和发散角的方法。本申请提供的侧向光光纤透镜的测量装置，可以测量侧向光光纤透镜的出光角度以及发散角，通过容纳管件可以旋转光纤透镜，并通过XZ移动平台可以调整光纤透镜的位置和高度，从而改变光纤透镜出光方向，然后利用激光的高单色性、高方向性等特点，并通过光探测卡以及光功率探头，定位光斑投影落点，测量出光角度、发散角度。

技术领域

本申请涉及光纤技术领域，具体涉及一种侧向光光纤透镜的测量装置及其测量方法。

背景技术

光学相干断层扫描技术(Optical Coherence Tomography，简称OCT)是近年来发展较快的一种最具发展前途的新型层析成像技术，特别是在生物组织活体检测和成像方面具有诱人的应用前景，已尝试在心内科、眼科、牙科和皮肤科的临床诊断中应用，是继X-CT和MRI技术之后的又一大技术突破，近年来已得到了迅速的发展，基于该技术的光学干涉断层成像系统可使人们获得微米量级空间分辨率的超高清影像。光学干涉断层成像系统扫描用的成像导管常常是基于侧向光光纤透镜，与此同时，侧向光光纤透镜的出光角度和发散角度等关键指标的测量成为此技术领域的重要课题。

目前现有技术中的并没有统一的有关于侧向光光纤透镜的出光角度和发散角度的测量装置以及测量方法，因此研究一种方便、易行准确率高的测量方法以及装置是该领域亟待解决的问题之一。

发明内容

针对，本申请提出一种侧向光光纤透镜的测量装置，以及采用该测量装置测量所述光纤透镜的出光角度以及发散角，通过所述测量装置，旋转和移动光纤透镜，从而改变和移动光纤透镜出光方向，然后利用激光的高单色性、高方向性等特点，并通过特殊光探测卡，定位光斑投影落点，测量出光角度、发散角度。

本申请提供如下技术方案。

1、一种侧向光光纤透镜的测量装置，其特征在于，包括XZ移动平台和XY移动平台，所述XZ移动平台上设置有可旋转的容纳管件，所述XY移动平台上设置有光探测卡，所述光探测卡的下方设置有光功率探头，且所述光探测卡的高度小于所述容纳管件的高度。

2、根据项1所述的测量装置，其特征在于，在所述XZ移动平台和XY移动平台之间还设置有固定底座，且所述固定底座上设置有卡槽，所述卡槽内设置有所述光功率探头。

3、根据项2所述的测量装置，其特征在于，所述光探测卡的第一端固定在所述XY移动平台上，所述光探测卡的第二端位于所述卡槽的上方；

所述XY移动平台上具有带刻度旋钮，用于记录所述光探测卡沿X轴方向和/或Y轴方向移动的相对距离。

4、根据项2所述的测量装置，其特征在于，所述光探测卡为矩形片，在所述光探测卡的第二端处具有正方形标识区，且所述正方形标识区位于所述卡槽上方；所述正方形标识区的面积不小于光功率探头探测面的面积。

5、根据项1所述的测量装置，其特征在于，所述XZ移动平台包括固定部、控制部以及升降部，且所述控制部固设于所述固定部上，所述升降部可升缩的设置于所述控制部上。

6、根据项5所述的测量装置，其特征在于，所述升降部沿Z轴设置有刻度，用于记录所述升降部的升降高度。

7、根据项5所述的测量装置，其特征在于，所述升降部的顶端设置有通孔，所述容纳管件贯穿所述通孔，且所述容纳管件与所述升降部垂直设置。

8、根据项7所述的测量装置，其特征在于，所述通孔的内径大于所述容纳管件的外径。

9、根据项7所述的测量装置，其特征在于，所述升降部上还设置有用于锁合所述容纳管件的卡锁件。