[发明专利]芯片测试系统和测试方法

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：

上位机，用于基于配置信息生成测试指令；

协议转换器，一端连接所述上位机，用于将所述上位机下发的测试指令转换为预设格式的测试命令；

待测芯片，连接所述协议转换器的另一端，用于接收所述协议转换器发送的所述预设格式的测试命令，并执行所述预设格式的测试命令，获得对所述待测芯片的测试信息；

其中，所述上位机生成对所述测试信息的读取指令，并由所述协议转换器将所述读取指令转换为所述预设格式的所述测试命令后发送给所述待测芯片，所述待测芯片执行所述读取指令，并将读取到的所述测试信息返回给所述上位机。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机包括：

指令生成器，用于根据配置信息生成测试指令。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述上位机还包括：

接口模块，连接所述指令生成器，用于将所述测试指令发送给协议转换器，并通过所述协议转换器接收所述待测芯片返回的所述测试信息。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述上位机还包括：

预期计算器，连接所述指令生成器，用于计算每条所述测试指令的期望值。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述上位机还包括：

处理器，分别连接所述预期计算器和所述接口模块，用于将所述测试信息与所述期望值进行比对，并基于比对结果，生成所述待测芯片的测试结果信息。

6.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述待测芯片包括：

命令接收器，连接所述协议转换器，用于接收对所述待测芯片的所述测试命令。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述待测芯片包括：

命令执行器，连接所述命令接收器，用于执行所述测试命令，并获得所述待测芯片的所述测试信息。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述待测芯片包括：

模式检测器，连接所述命令执行器，用于检测所述待测芯片当前是否处于测试模式，并在所述待测芯片当前处于测试模式时，驱动所述命令执行器执行所述测试命令。

9.据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述待测芯片包括：

存储器，连接所述命令执行器，用于存储所述待测芯片的测试信息。

10.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

接收测试请求，所述测试请求中携带有用于测试的配置信息；

根据所述配置信息，生成测试指令；

发送所述测试指令至待测芯片，并计算所述测试指令的期望值；

接收所述待测芯片返回的测试信息；

判断所述测试信息与所述期望值是否相同；

若所述测试信息与所述期望值相同，发送下一条测试指令至所述待测芯片，否则，输出所述测试信息与所述期望值的比对结果信息。