[发明专利]一种封闭异型窄通道类零件的截面面积测量方法及系统

权利要求书

1.一种封闭异型窄通道类零件的截面面积测量方法，该截面形状为凸截面，其特征在于，

包括以下步骤：

步骤S1：扫描得到封闭异型窄通道类零件的通道内部截面轮廓；

步骤S2：将截面分割成若干个连续的微小图形；

步骤S3：对所有微小图形的面积进行计算并求和以得到截面面积；

所述步骤S2具体为：

将测量坐标系的原点置于封闭的轮廓线内，然后在封闭的截面轮廓线上沿顺时针或逆时针连续选取若干个扫描测点，每一组相邻测点和坐标原点构成一个三角形，从而将截面分割成若干个连续的三角形；

所述步骤S1中进行轮廓扫描时采取过扫描的方式以确保截面轮廓线闭合；

所述步骤S3还包括以下内容：

当采用逆时针连续选取测点时，判断最后一个测点和第一个测点在Y轴上的坐标值大小，如果最后一个测点的Y轴坐标值比第一个测点小，则再判断倒数第二个测点和第一个测点在Y轴上的坐标值大小，进行逐一判断，直至一个测点的Y轴坐标值比第一个测点大，记录该测点的序号并将其作为目标测点，利用循环语句计算从第一个测点至目标测点之间的所有测点与坐标原点构成的所有三角形的面积以得到循环总面积，再计算目标测点、第一个测点与坐标原点构成的三角形面积，将两个面积相加即得到截面面积；

当采用顺时针连续选取测点时，判断最后一个测点和第一个测点在Y轴上的坐标值大小，如果最后一个测点的Y轴坐标值比第一个测点大，则再判断倒数第二个测点和第一个测点在Y轴上的坐标值大小，进行逐一判断，直至一个测点的Y轴坐标值比第一个测点小，记录该测点的序号并将其作为目标测点，利用循环语句计算从第一个测点至目标测点之间的所有测点与坐标原点构成的所有三角形的面积以得到循环总面积，再计算目标测点、第一个测点与坐标原点构成的三角形面积，将两个面积相加即得到截面面积。

2.如权利要求1所述的封闭异型窄通道类零件的截面面积测量方法，其特征在于，

所述步骤S2还包括以下内容：

获取截面轮廓线的曲率分布情况，在曲率变化大的线段选取数量多的扫描测点，在曲率变化小的线段选取数量少的扫描测点。

3.如权利要求1所述的封闭异型窄通道类零件的截面面积测量方法，其特征在于，

所述步骤S3中具体采用海伦公式分别计算所有三角形的面积，进而求和得到截面面积。

4.一种封闭异型窄通道类零件的截面面积测量系统，采用如权利要求1所述的截面面积测量方法，其特征在于，包括：

扫描单元，用于扫描得到封闭异型窄通道类零件的通道内部截面轮廓；

图形分割单元，用于将截面分割成若干个连续的微小图形；

面积计算单元，用于对所有微小图形的面积进行计算并求和以得到截面面积。

5.如权利要求4所述的封闭异型窄通道类零件的截面面积测量系统，其特征在于，

所述扫描单元采用五轴联动坐标测量机，所述图形分割单元和面积计算单元集成设置在处理器上，所述处理器采用DMIS程序来执行数据处理过程。

6.如权利要求5所述的封闭异型窄通道类零件的截面面积测量系统，其特征在于，

还包括曲率计算单元，用于计算截面轮廓线的曲率分布情况，所述图形分割单元还用于根据所述曲率计算单元的计算结果选择扫描测点的分布情况，在曲率变化大的线段选取数量多的扫描测点，在曲率变化小的线段选取数量少的扫描测点。