[发明专利]一种快速比对辐射防护铅当量的装置及比对方法

权利要求书

1.一种快速比对辐射防护铅当量的装置，包括检测板，其特征在于，所述检测板包括不同厚度的阶梯状的突出部。

2.根据权利要求1所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，所述检测板包括若干检测块，所述检测块阶梯状层叠设置，最上方的所述检测块面积最小，由最上层至最下层所述检测块面积依次增加。

3.根据权利要求2所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，所述检测块的材料为铅、混凝土、铁、石膏、砖中的一种或几种的组合。

4.根据权利要求2或3所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，所述检测块的材料为铅，优选的，所述检测块的材料为纯度为99.9以上的铅。

5.根据权利要求2所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，所述检测块的层数为5～20层。

6.根据权利要求2所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，每一层所述检测块的厚度为0.01-1毫米。

7.根据权利要求5或6所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，每个所述检测块的厚度相同；每个所述检测块表面平整，厚度均匀。

8.根据权利要求2所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，每一层所述检测块上设置有标签，所述标签上标注有当量值，优选的，所述当量值为本层所述检测块的厚度与本层以下所有所述检测块的厚度之和。

9.根据权利要求2所述的快速比对辐射防护铅当量的装置，其特征在于，还包括固定装置，所述固定装置包裹并固定所述检测板；所述固定装置的材料为树脂、塑料、玻璃中的一种。

10.基于权利要求1～9任一所述的快速比对辐射防护铅当量的装置的比对方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：将所述快速比对辐射防护铅当量的装置和待测样品放置在射线探测器上；

S2：使用X光机同时拍摄所述快速比对辐射防护铅当量的装置和待测样品，；

S3：比对X光片中待测样品成像的灰度值和所述快速比对辐射防护铅当量的装置中对应所述检测片的灰度值，得出待测样品的辐射防护铅当量。