[发明专利]一种相控阵天线测试方法、装置、设备及介质

说明书

本发明公开了一种相控阵天线测试方法、装置、设备及介质，方法包括：确定相控阵列天线探头的位置点序列和测试任务序列；控制相控阵列天线探头移动至目标测试点的坐标位置；对所述目标位置进行自动化测试；根据预定义的神经网络优化算法对每个所述相控阵列天线探头的目标测试点进行扫描，获取采集数据；对扫描完毕后的所有采集数据进行数据校验，得到测量结束后的采样数据。本发明实施例能够提高大型相控阵天线探头扫描测试效率，可广泛应用于天线测量技术领域。

技术领域

本发明涉及天线测量技术领域，尤其是一种相控阵天线测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

相控阵天线的测试过程较为复杂，目前对于相控阵列天线探头扫描每个测试点采用的方案往往由人为确定或者根据近似算法得到优化后的路线。首先人为确定的方法人为主观性因素太大，针对每种不同的相控阵列均需设置不同的扫描顺序方法，这使得预设定程序繁琐且智能化程度不高。同时，如果人为设定的方法不是最优或者次优的扫描路线，可能导致系统整体的测试时间增加，降低测试效率。其次，近似算法原理是先将每个天线节点构造成为带权重的完全无向图G，并选择G中任意一个顶点r作为根节点，接着使用普里姆(Prim)算法先找出要求的最小生成树T,然后通过前序遍历最小生成树T得到按遍历顺序得到的顶点表L，最后将根节点r加到顶点表L的末尾，按L中顶点的次序组成回路H。这种近似算法是一种渐进式的最优路径求解方法，求解速度快，但是这种近似算法往往不能求得最优解。综上所述，目前主流的两种方法仍不能很好的解决大型相控阵天线探头快速扫描测试的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种相控阵天线测试方法、装置、设备及介质，以提高大型相控阵天线探头的扫描测试效率。

本发明的一方面提供了一种相控阵天线测试方法，包括：

确定相控阵列天线探头的位置点序列和测试任务序列；

控制相控阵列天线探头移动至目标测试点的坐标位置；

对所述目标位置进行自动化测试；

根据预定义的神经网络优化算法对每个所述相控阵列天线探头的目标测试点进行扫描，获取采集数据；

对扫描完毕后的所有采集数据进行数据校验，得到测量结束后的采样数据。

可选地，所述确定相控阵列天线探头的位置点序列和测试任务序列，包括：

将整体相控阵天线节点划分为多个区域块；

根据神经网络优化算法将多个所述区域块构建得到区域块路线；

根据所述区域块路线，根据神经网络优化算法对每个所述区域块中多个节点进行遍历，构建每个区域块的子区域块路线，其中，每个所述子区域块中距离探头遍历路线的最后一个点最近的下一个子区域块中的节点成为所述下一子区域块探头遍历的始点；

根据所述区域块路线和所述子区域块路线，构建相控阵列天线探头遍历路线。

可选地，所述神经网络优化算法为Hopfield神经网络；

其中，所述Hopfield神经网络中每个神经元作为输入和输出，所述Hopfield神经网络为单层全连接递归网络；

所述Hopfield神经网络的权重在搭建网络时计算得到，所述Hopfield神经网络的权重在网络迭代过程中保持不变；

通过改进的能量函数控制所述Hopfield神经网络在迭代过程中的稳定性；

将所述Hopfield神经网络运行到稳定状态时，各个神经元的状态的集合作为PA-TSP的解。

可选地，所述方法还包括：