[发明专利]一种面板缺陷检查方法、系统、终端设备及存储介质

权利要求书

1.一种面板缺陷检查方法，其特征在于，包括：

获取目标面板的面板图片，根据所述目标面板的型号对所述面板图片进行截取操作；

在所述截取后的面板图片中的四角分别确定目标点；根据所述目标点的灰阶值对所述目标点进行升序排序；

从排序后的目标点中选取位于中间的两个目标点，并计算所述两个目标点的目标点差值；

根据所述目标点差值对所述两个目标点进行处理，确定分割阈值；

根据所述分割阈值对所述截取后的面板图片进行二值化处理；

对所述二值化处理后的面板图片中的干扰缺陷进行滤除处理；

对所述滤除处理后的面板图片进行形态学处理，得到正常状态下的面板图片；

根据所述正常状态下的面板图片和所述滤除处理后的面板图片进行判定，得到所述目标面板的判定结果；

当所述判定结果中存在破片部分时，对所述目标面板进行拦截操作，以使检查人员对所述目标面板进行复判。

2.如权利要求1所述的面板缺陷检查方法，其特征在于，所述根据所述正常状态下的面板图片和所述滤除处理后的面板图片进行判定，包括：

对所述正常状态下的面板图片和所述滤除处理后的面板图片叠加进行同或处理，得到叠加后的面板图片；

对所述叠加后的面板图片进行噪声滤除，对所述噪声滤除后的面板图片进行判定。

3.如权利要求1所述的面板缺陷检查方法，其特征在于，所述对所述二值化处理后的面板图片中的干扰缺陷进行滤除处理，包括：

确定所述二值化处理后的面板图片中的缺陷点，根据所述缺陷点确定至少两个判定方向；

当所述至少两个判定方向的预设范围内均存在预设类型的关键点时，对所述缺陷点进行补色处理。

4.如权利要求1或3所述的面板缺陷检查方法，其特征在于，所述对所述二值化处理后的面板图片中的干扰缺陷进行滤除处理，还包括：

确定所述二值化处理后的面板图片中的缺陷点，根据所述缺陷点确定至少两个判定方向；

当所述判定方向的预设范围内不存在预设类型的关键点时，对所述二值化处理后的面板图片进行膨胀腐蚀处理。

5.如权利要求1所述的面板缺陷检查方法，其特征在于，所述根据所述目标点差值对所述两个目标点进行处理，确定分割阈值，包括：

当所述目标点差值大于预设差值阈值时，将所述两个目标点以第一预设算法进行处理，得到所述分割阈值，所述第一预设算法如下：

其中，Bin Value为分割阈值；Bin Value List[1]为升序排序后位于第二位的目标点的灰阶值；Bin Value List[2]为升序排序后位于第三位的目标点的灰阶值；

当所述目标点差值小于预设差值阈值时，将所述两个目标点以第二预设算法进行处理，得到所述分割阈值，所述第二预设算法如下：

BinValue＝BinValueList[2]+S

其中，S为常数。