[发明专利]测试座及包含其的测试装置、测试座的制造方法

权利要求书

1.一种测试座，涉及一种将具有端子的被检查设备与发生测试信号的测试器联接而设置在用于测试所述被检查设备的测试装置的测试座，其特征在于，

包括：非弹性绝缘外壳，由非弹性绝缘材料构成，并具有按厚度方向贯通形成的多个外壳孔；及

导电部，以在弹性绝缘物质内包含多个导电粒子的形式构成，且被配置在所述外壳孔内，以使下端部与放置在所述非弹性绝缘外壳的下侧的所述测试器的信号电极联接，上端部与放置在所述非弹性绝缘外壳的上侧的所述被检查设备的端子联接，以厚度方向贯通所述非弹性绝缘外壳，

在所述非弹性绝缘外壳形成以厚度方向贯通所述非弹性绝缘外壳的排列孔，该排列孔供用于将所述非弹性绝缘外壳固定在所述测试器的零件的排列销通过，

所述导电部包括：导电部主体，设置在所述外壳孔内；导电部下部凸块，与所述导电部主体连接而由所述非弹性绝缘外壳的下面突出，并满足下面的条件，

其中，Lt为导电部主体和导电部下部凸块相加的长度，Lb为导电部下部凸块的长度。

2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

所述非弹性绝缘外壳的硬度为3B～6H的范围。

3.根据权利要求2所述的测试座，其特征在于，

所述非弹性绝缘外壳由聚酰亚胺构成。

4.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

所述外壳孔包括：

外壳下部孔，以恒定宽度从所述非弹性绝缘外壳的下面向上侧延伸；外壳上部孔，以从所述非弹性绝缘外壳的上面趋向下侧而宽度逐渐减小的形式形成，与所述外壳下部孔连接。

5.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

包括：

绝缘部，由弹性绝缘物质构成，配置在所述非弹性绝缘外壳和所述导电部之间。

6.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

包括：

上部绝缘垫片，由绝缘材料构成，并具有在与所述导电部对应的位置形成的上部绝缘垫片孔，并与所述非弹性绝缘外壳的上面结合，

所述上部绝缘垫片孔的至少一部分以从所述上部绝缘垫片的上面趋向所述非弹性绝缘外壳侧而宽度逐渐减小的方式形成为锥形。

7.根据权利要求6所述的测试座，其特征在于，

所述导电部包括：

导电部主体，设置在所述外壳孔内；

导电部上部凸块，与所述导电部主体连接而从所述非弹性绝缘外壳的上面突出，

所述上部绝缘垫片孔的最上部宽度大于所述导电部上部凸块的宽度。

8.一种测试装置，涉及一种将具有端子的被检查设备与发生测试信号的测试器联接而用于测试所述被检查设备的测试装置，其特征在于，

包括：

测试座，以电为媒介连接所述测试器和所述被检查设备，以使所述测试器的测试信号传输至所述被检查设备；

引导外壳，与所述测试器结合，以用于将所述测试座固定在所述测试器，并设置插入于所述测试器的固定孔的排列销；及

推送器，以接近所述测试器侧或远离所述测试器的方式移动，而提供将放置在所述测试座上的所述被检查设备向所述测试器侧加压的加压力，

所述测试座包括：

非弹性绝缘外壳，由非弹性绝缘材料构成，并具有按厚度方向贯通形成的多个外壳孔和以供所述排列销通过的方式按厚度方向贯通形成的排列孔；及

导电部，以在弹性绝缘物质内包含多个导电粒子的形式构成，且被配置在所述外壳孔，以使下端部与放置在所述非弹性绝缘外壳的下侧的所述测试器的信号电极联接，上端部与放置在所述非弹性绝缘外壳的上侧的所述被检查设备的端子联接，并按厚度方向贯通所述非弹性绝缘外壳，

所述导电部包括：导电部主体，设置在所述外壳孔内；导电部下部凸块，与所述导电部主体连接而由所述非弹性绝缘外壳的下面突出，并满足下面的条件，

其中，Lt为导电部主体和导电部下部凸块相加的长度，Lb为导电部下部凸块的长度。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，

包括：

缓冲部，配置在所述推送器和所述被检查设备之间，以缓冲所述推送器对所述被检查设备施加的压力。