[发明专利]一种用于探针针尖封、开口的手动控制装置及其使用方法

说明书

一种用于探针针尖封、开口的手动控制装置及其使用方法，它涉及探针技术领域。本发明解决了现有的微区腐蚀检测用探针存在实验过程中微小的外力撞击就会使针尖产生变形，而尖端变形后的探针难以精确对准待测金属区域，基本不可用，损耗严重的问题。本发明在对探针封口时，通过手动旋转两个X轴方向调节旋钮调节探针固定件在X轴方向的位移，通过手动旋转两个Y轴方向调节旋钮调节探针固定件在Y轴方向的位移，将探针定位于恒电位仪电热头正下方，通过手动旋转Z轴方向调节旋钮调节探针固定件在Z轴方向的位移，进而实现对探针针尖手动开口或封口，使用高倍显微镜对探针针尖手动开口或封口进行实时观察。本发明用于实现探针针尖手动封口或开口。

技术领域

本发明涉及一种手动控制装置及其使用方法，具体涉及一种用于探针针尖封、开口的 手动控制装置及其使用方法。

背景技术

关于金属腐蚀机理过程的宏观电化学测量与研究取得了长足的进展，随着微区探针技 术和微区技术的广泛应用与结合，产生的扫描微区电化学技术，微区腐蚀检测技术大多都 是利用微电极(探针)来获取电化学信号，在实验过程微小的外力撞击就会使针尖产生变 形，而尖端变形后的探针难以精确对准待测金属区域，基本不可用，损耗严重。本发明主 要用于对实验室自制探针针尖进行手动封口、开口，起到保护作用，用以辅助完成对合金 微区局部腐蚀的表征测试研究，降低实验成本，提高效率。

综上，现有的微区腐蚀检测用探针存在实验过程中微小的外力撞击就会使针尖产生变 形，而尖端变形后的探针难以精确对准待测金属区域，基本不可用，损耗严重的问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有的微区腐蚀检测用探针存在实验过程中微小的外力撞 击就会使针尖产生变形，而尖端变形后的探针难以精确对准待测金属区域，基本不可用， 损耗严重的问题，进而提供一种用于探针针尖封、开口的手动控制装置及其使用方法。

本发明的技术方案是：

一种用于探针针尖封、开口的手动控制装置，它包括恒电位仪电热头1、XYZ轴控制平台2、高倍显微镜3和手动摇臂装置4，XYZ轴控制平台2和手动摇臂装置4相对并 排设置在水平面上，高倍显微镜3安装在手动摇臂装置4上，XYZ轴控制平台2包括XY 轴控制组件21、Z轴控制组件22、电热头固定架23和探针固定件24，XY轴控制组件 21包括XY轴控制平台211、两个X轴方向调节旋钮212和两个Y轴方向调节旋钮213， 两个X轴方向调节旋钮212和两个Y轴方向调节旋钮213交错布置，且以环形阵列的方 式安装在XY轴控制平台211的四周，Z轴控制组件22包括Z轴承载平台221和Z轴方 向调节旋钮222，Z轴承载平台221设置在XY轴控制组件21上方并与XY轴控制组件 21的动力输出端连接，Z轴方向调节旋钮222竖直安装在Z轴承载平台221上方，探针 固定件24安装在Z轴承载平台221上，电热头固定架23设置在Z轴控制组件22一侧， 电热头固定架23底部与XY轴控制平台211可拆卸连接，恒电位仪电热头1安装在电热 头固定架23上，恒电位仪电热头1与探针固定件24相对设置，在对探针封口时，通过手 动旋转两个X轴方向调节旋钮212调节探针固定件24在X轴方向的位移，通过手动旋转 两个Y轴方向调节旋钮213调节探针固定件24在Y轴方向的位移，将探针定位于恒电位 仪电热头1正下方，通过手动旋转Z轴方向调节旋钮222调节探针固定件24在Z轴方向 的位移，进而实现对探针针尖手动开口或封口，高倍显微镜3朝向恒电位仪电热头1设置， 在探针针尖封口或封口过程中，使用高倍显微镜3对探针针尖手动开口或封口进行实时观 察，保障探针针尖完全被沥青包裹或褪去沥青。