[发明专利]激光结合HF湿刻蚀加工TGV通孔的工艺有效
申请号: | 202110307378.6 | 申请日: | 2021-03-23 |
公开(公告)号: | CN112864026B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 蔡星周;张继华;穆俊宏;贾惟聪;李文磊;郭欢 | 申请(专利权)人: | 三叠纪(广东)科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 | 代理人: | 李鹏 |
地址: | 523947 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 结合 hf 刻蚀 加工 tgv 工艺 | ||
本发明提供了一种激光结合HF湿刻蚀加工TGV通孔的工艺,包括A、利用激光在玻璃晶圆上预设小孔;B、将玻璃晶圆放入装有HF溶液的容器,将容器放入超声设备中,开启超声设备,利用HF溶液将玻璃晶圆上的小孔腐蚀至需要的直径;C、取出玻璃晶圆,用去离子水清洗干净;D、检测玻璃通孔的孔径和通透性。通过激光诱导作用,可采用HF溶液刻蚀出孔径小于或等于50μm的圆孔,效率高,且通孔内壁光滑,锥度小,通孔密度可大于2500个/cmsupgt;2/supgt;,可有效减小玻璃晶圆的尺寸。
技术领域
本发明涉及,尤其是一种激光结合HF湿刻蚀加工TGV通孔的工艺。
背景技术
转接板(Interposer)是三维集成微系统中高密度互联和集成无源元件的载体,是实现三维集成的核心材料。目前数字电路(如DRAM、逻辑芯片)的三维集成普遍应用的是以硅为转接板的通孔技术(Through-Silicon Via,TSV)。然而,对于高频应用,要求转接板材料必须具有低介电损耗和低介电常数,以减少基板的射频功率耗散、增加自谐振频率。但是,由于硅是一种半导体材料,TSV周围的载流子在电场或磁场作用下可以自由移动,对邻近的电路或信号产生影响,降低芯片高频性能。此外,也因为硅的半导体特性,TSV还需要在通孔内制作电隔离层、扩散阻挡层、种子层以及无空隙的铜填充,不仅工艺复杂,而且寄生电容明显,往往难以满足三维集成射频微系统的性能要求。玻璃材料没有自由移动的电荷,介电性能优良,以玻璃替代硅材料的玻璃通孔技术(Through Glass Via,TGV)可以避免TSV的高频损耗问题。此外,TGV技术可以省去铜填充前的前阻挡层和氧化覆膜层制作;同时显著减小镀铜层与基板之间的过孔电容,降低过孔有源和无源电路之间的电磁干扰。这样不仅大幅提高射频微系统的性能、减小体积,而且可大幅降低工艺复杂度和加工成本。因此,对射频微系统而言,玻璃是最合适的转接板材料,而TGV则是理想的射频微系统三维集成解决方案。
TGV技术已有许多在玻璃中成孔的方法,包括机械方法(钻孔、喷砂)、化学方法(湿法、等离子刻蚀)以及激光刻蚀方法等。但是,相对于TSV技术的成熟,由于玻璃性能的特殊性,TGV技术面临的关键问题是难以制作高深宽比的玻璃通孔或沟槽。目前普遍采用的激光打孔TGV孔径大、崩边、侧壁粗糙、倾斜,并且由于是单点操作,在制作数量巨大的通孔时其成本将非常高。例如,基于激光来实现基片的通孔加工,最小孔径约为150μm,最小的孔间距约为50μm,如果要实现良好的隔离传输,按25个阵列孔的射频端口进行设计,则每个传输孔阵列单元的尺寸将达到2mm×2mm以上。总之,目前TGV技术在集成度、实现可接受的侧壁粗糙度、深宽比、可靠性以及总体成本和效率方面还有不少问题,远未成熟。申请号为202010693932.4的发明申请公开了一种飞秒激光结合HF湿蚀刻加工TGV的工艺,需要反复翻面减薄,效率低下。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种激光结合HF湿刻蚀加工TGV通孔的工艺,解决TGV孔径大,侧壁粗糙,打孔效率低的问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:激光结合HF湿刻蚀加工TGV通孔的工艺,所述工艺由以下步骤构成:
A、利用激光在玻璃晶圆上预设小孔;
B、将玻璃晶圆放入装有HF溶液的容器,所述HF溶液的质量浓度为8%至15%,所述HF溶液的温度为20℃到40℃;将容器放入超声设备中,开启超声设备,所述超声设备发出的超声波频率为40KHZ,在60-120min的腐蚀时间,利用HF溶液将玻璃晶圆上的小孔腐蚀至需要的直径;
C、取出玻璃晶圆,用去离子水清洗干净;
D、检测玻璃通孔的孔径和通透性;
所述工艺能够在120min的腐蚀时间内在玻璃晶圆上得到孔密度大于等于2500个/cm2的通孔,且通孔的孔径大小均匀,通孔内壁光滑、锥度小。
进一步地,步骤C中,清洗在超声设备中进行。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造