[发明专利]一种面板检测的自动对焦控制方法和面板缺陷检测方法

权利要求书

1.一种面板检测的自动对焦控制方法，其特征在于，应用于面板检测系统，所述面板检测系统包括承载结构、驱动电机、光学成像系统、第一位置检测装置和第二位置检测装置，所述驱动电机适于在所述承载结构处运动，所述光学成像系统与所述驱动电机连接，所述第一位置检测装置适于对所述驱动电机在所述承载结构处的位置进行定位，所述第二位置检测装置与所述光学成像系统连接，所述第二位置检测装置适于对所述光学成像系统的位置进行定位，所述面板检测的自动对焦控制方法包括：

获取对焦位置；

控制所述驱动电机在所述承载结构处运动，以使所述驱动电机和所述光学成像系统朝向所述对焦位置运动；

获取所述第一位置检测装置的第一位置信息；

根据所述第一位置信息判断所述第二位置检测装置是否符合运行要求，其中，当所述第一位置信息与所述对焦位置相匹配，且所述第二位置检测装置的电压小于或等于预设电压时，则判定所述第二位置检测装置符合运行要求；

若是，则获取所述第二位置检测装置的第二位置信息，并根据所述第二位置信息和所述对焦位置控制所述驱动电机运动，以驱动所述光学成像系统进行对焦。

2.根据权利要求1所述的面板检测的自动对焦控制方法，其特征在于，所述第一位置信息为所述驱动电机在所述承载结构处相对所述驱动电机的初始位置的电机间距，所述对焦位置为所述光学成像系统相对于待测面板的对焦间距；所述判断所述第二位置检测装置是否符合运行要求还包括：

根据所述电机间距以及所述对焦间距判断所述第一位置信息是否与所述对焦位置相匹配，其中，当所述初始位置与所述待测面板的间距与所述电机间距的求差结果和所述对焦间距的差值的绝对值小于或等于第一预设阈值时，则判定所述第一位置信息与所述对焦位置相匹配。

3.根据权利要求2所述的面板检测的自动对焦控制方法，其特征在于，所述第二位置信息为所述光学成像系统与所述待测面板的实际间距；所述根据所述第二位置信息和所述对焦位置控制所述驱动电机运动，以驱动所述光学成像系统进行对焦包括：

根据所述实际间距与所述对焦间距的差值控制所述驱动电机运动，直至所述实际间距与所述对焦间距的差值的绝对值小于或等于第二预设阈值。

4.根据权利要求3所述的面板检测的自动对焦控制方法，其特征在于，所述根据所述第二位置信息和所述对焦位置控制所述驱动电机运动，以驱动所述光学成像系统进行对焦后，还包括：

根据所述第一位置检测装置获取所述驱动电机的对焦实际位置，以根据所述对焦实际位置判断所述光学成像系统的对焦情况。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的面板检测的自动对焦控制方法，其特征在于，所述获取对焦位置包括：

在预定位区域通过所述光学成像系统实时采集标定面板的图像；

根据设定条件调整所述光学成像系统的位置，以使所述光学成像系统采集多张所述图像；

通过评价算法确定多张所述图像中清晰度评价分数最高的图像；

通过所述清晰度评价分数最高的图像确定所述对焦位置。

6.一种面板缺陷检测方法，其特征在于，包括：

根据如权利要求1-5中任一项所述的面板检测的自动对焦控制方法获取待测面板的扫描图像；

根据所述待测面板的扫描图像确定所述待测面板的缺陷的类型；

获取预设需复检类缺陷；

根据所述待测面板的缺陷的类型和所述预设需复检类缺陷的匹配情况对所述待测面板进行复检。