[发明专利]一种基于几何光学的半导体激光仪

说明书

本发明公开了一种基于几何光学的半导体激光仪，包括遮光外壳，所述遮光外壳内设有开口向前的检测槽，所述检测槽左壁内连通设有第三滑动槽，所述第三滑动槽顶壁上转动连接有第一螺纹轴；本发明采用光的直线传播技术并利用半导体激光器件和感光元件发射和获取光线，再利用编码器检测检测板转动的角度从而获取物体光滑表面的倾斜度，在忽略中间过程计算过程的同时得到得到精确的数值，减少处理器的计算量降低对硬件的要求，增加可靠性，还将整个的检测过程设置在检测槽内，在检测过程中将检测槽封闭，并通过保险装置对检测过程以及托板的移动过程进行控制，避免外界光线对测量过程产生干扰。

技术领域

本发明涉及半导体激光器件技术领域，具体为一种基于几何光学的半导体激光仪。

背景技术

半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器。其具有效率高、体积小、重量轻且价格低等优点。由于发射出记得激光光束较为集中，并且光线是沿直线传播的，因此半导体激光器用来检测物体光滑表面的水平度是很好的选择，但是现在市面上用来检测水平度的方式大致有塞尺测量、液平面测量、水平仪测量、激光平面干涉仪和打表测量这几类。

但是都存在自身的缺陷，比如塞尺测量的进度不高，检测效率低；

液平面法测量时间长，受温度影响大；水平仪测量费时、费力、调整时间长，数据处理程序繁琐；打表测量效率较低，而激光平面干涉仪常用于光学车间、实验室、计量室等场所，对于环境要求较高，周围光线会影响到检测结果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于几何光学的半导体激光仪，用于克服现有技术中的上述缺陷。

根据本发明的一种基于几何光学的半导体激光仪，包括遮光外壳，所述遮光外壳内设有开口向前的检测槽，所述检测槽左壁内连通设有第三滑动槽，所述第三滑动槽顶壁上转动连接有第一螺纹轴，所述第一螺纹轴上螺纹连接有第一移动块，所述第一移动块右侧面固设有第一连接块，所述第一连接块右侧面固设有第二连接块，所述第二连接块内设有第二转动腔，所述第二转动腔内转动连接有贯穿所述第二连接块外侧面的第二转动轴，所述第二转动轴前后末端固设有位置对称的安装板，所述安装板右侧固设有第三连接块，所述第三连接块内设有第三转动腔，所述第三转动腔左壁上固设有第二电机，所述第二电机右侧面安装有贯穿所述第三连接块右侧面的第三转动轴，所述第三转动轴右侧末端固设有检测板，所述检测板底面内安装有三角排列的半导体激光器件，所述检测板底面内紧密排列有感光元件，所述第一连接块内设有能够检测所述检测板转动角度的检测装置，所述检测槽右壁上固设有固定块，所述固定块左侧面固设有第四连接块，所述第四连接块内设有第四滑动槽，所述第四滑动槽内滑动连接有移动板，所述移动板左侧面固设有贯穿所述第四连接块左侧面的第一连接杆，所述第一连接杆与所述检测板右侧面转动连接，所述移动板右侧面与所述第四滑动槽右壁之间通过第一弹簧固定连接，所述第四滑动槽右壁内安装有电磁铁，所述第三滑动槽下方的所述检测槽左壁内连通设有第一滑动槽，所述第一滑动槽内滑动连接有延伸至所述检测槽内的托板，所述遮光外壳内设有能够带动所述托板移动的移动装置，所述第三滑动槽和所述第一滑动槽之间设有能够确保托板以后再进行检测工作的保险装置。

可选地，所述检测装置包括设置于所述第一连接块内的第四转动腔，所述第四转动腔左壁上安装有一号编码器，所述一号编码器右侧面安装有延伸至所述第二转动腔内的第四转动轴，所述第四转动腔内的所述第四转动轴上固设有二号齿轮，所述一号编码器后方的所述第四转动腔左壁上安装有二号编码器，所述二号编码器右侧面安装有第五转动轴，所述第五转动轴右侧末端固设有与所述二号齿轮啮合的三号齿轮，所述第四转动轴右侧末端固设有一号锥齿轮，所述第二转动轴上固设有与所述一号锥齿轮啮合的二号锥齿轮，所述第二电机后壁上安装有三号编码器，所述三号编码器前侧面安装有第六转动轴，所述第六转动轴前端固设有三号锥齿轮，所述第三转动轴上固设有与所述三号锥齿轮啮合的四号锥齿轮，所述第四转动腔顶壁上安装有处理器。