[发明专利]发光单元检测方法及装置、检测仪器

说明书

申请涉及显示技术领域，公开了一种发光单元检测方法，包括：分时点亮发光器件的待检测发光单元组，以获得待检测发光单元组的点亮图像，其中，所述待检测发光单元组中至少包括两种颜色的待检测发光单元，所述待检测发光单元彼此间隔；基于所述点亮图像得到每个待检测发光单元对应的检测结果。本申请提供的发光单元检测方法可以提高发光单元检测结果的准确率。本申请还公开了一种发光单元检测装置及检测仪器。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，例如涉及发光单元检测方法及装置、检测仪器。

背景技术

发光器件中的发光单元的良率会对显示效果产生影响。其中，发光单元的光学参数是衡量发光单元良率的指标之一。

在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：

相关技术中，可以通过对整个发光器件拍摄影像来实现发光单元的检测，但是发光单元检测结果准确率较低。

发明内容

为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。该概括不是泛泛评述，也不是要确定关键／重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。

本公开实施例提供了一种发光单元检测方法、发光单元检测装置和检测仪器，以解决发光单元的检测准确率较低的技术问题。

在一些实施例中，发光单元检测方法包括：

分时点亮发光器件的待检测发光单元组，以获得待检测发光单元组的点亮图像，其中，所述待检测发光单元组中至少包括两种颜色的待检测发光单元，所述待检测发光单元彼此间隔；

基于所述点亮图像得到每个待检测发光单元对应的检测结果。

在一些实施例中，发光单元检测装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，所述处理器被配置为在执行所述程序指令时，执行如上所述的发光单元检测方法。

在一些实施例中，发光单元检测装置包括：

控制芯片，被配置为分时点亮发光器件的待检测发光单元组，以获得待检测发光单元组的点亮图像，基于所述点亮图像得到每个待检测发光单元对应的检测结果，其中，所述待检测发光单元组中至少包括两种颜色的待检测发光单元，所述待检测发光单元彼此间隔；

拍摄器件，被配置为采集待检测发光单元组点亮时的点亮图像。

在一些实施例中，检测仪器包括如上所述的发光单元检测装置。

本公开实施例提供的发光单元检测方法、发光单元检测装置和检测仪器，可以实现以下技术效果：

提高发光单元检测结果的准确率。

以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。

附图说明

至少一个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件，附图不构成比例限制，并且其中：

图1是本公开实施例提供的发光单元检测方法的流程示意图；

图2A是本公开实施例提供的一种发光器件示意图；

图2B是本公开实施例提供的另一种发光器件示意图；

图3A是本公开实施例提供的待检测发光单元的一种分组示意图；

图3B是本公开实施例提供的待检测发光单元的另一种分组示意图；

图3C是本公开实施例提供的待检测发光单元的另一种分组示意图；

图3D是本公开实施例提供的待检测发光单元的另一种分组示意图；

图4A是本公开实施例提供的待检测发光单元的另一种分组示意图；

图4B是本公开实施例提供的待检测发光单元的另一种分组示意图；