[发明专利]图像处理方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号: | 202110301901.4 | 申请日: | 2021-03-22 |
| 公开(公告)号: | CN112884071A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
| 发明(设计)人: | 王升;张翔;孙仲旭;程鑫;吴俊耦;章登极;刘吉刚;王月;徐必业;吉守龙;吴丰礼 | 申请(专利权)人: | 广东拓斯达科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06K9/32 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:
获取开模误差在容许范围内的多张图像,得到模具的多张模板图像;
从所述多张模板图像中选取基准图像,以所述基准图像为准,依次对所述多张模板图像中除所述基准图像之外的剩余模板图像进行容差分割,得到容差点集;
获取所述模具的实测图像,以所述基准图像为准,对所述实测图像进行容差分割,得到候选点集;
根据所述容差点集过滤所述候选点集,得到目标点集;
根据所述目标点集确定所述实测图像中的报警区域。
2.根据权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述以所述基准图像为准,依次对所述多张模板图像中除所述基准图像之外的剩余模板图像进行容差分割,得到容差点集,包括:
针对所述剩余模板图像中的任一模板图像,计算具有相同位置信息的像素点在所述任一模板图像中的灰度值与在所述基准图像中的灰度值的差值,选取差值超过预设灰度阈值的像素点,并获取所选像素点的位置信息,得到所述任一模板图像对应的容差子集;
遍历所述剩余模板图像中的每一张模板图像,得到每一张模板图像对应的容差子集,将得到的各个容差子集合并,从而得到所述容差点集。
3.根据权利要求2所述的图像处理方法,其特征在于,所述以所述基准图像为准,对所述实测图像进行容差分割,得到候选点集,包括:
计算具有相同位置信息的像素点在所述实测图像中的灰度值与在所述基准图像中的灰度值的差值,选取差值超过所述预设灰度阈值的像素点,并获取所选像素点的位置信息,得到所述候选点集。
4.根据权利要求2所述的图像处理方法,其特征在于,所述方法还包括:
确定免检区域,并获取所述免检区域的像素点的位置信息;
将所述免检区域的像素点的位置信息并入所述容差点集。
5.根据权利要求1至4任一所述的图像处理方法,其特征在于,所述根据所述容差点集过滤所述候选点集,得到目标点集,包括:
从所述候选点集中去除属于所述容差点集的像素点,得到所述目标点集。
6.根据权利要求1至3任一所述的图像处理方法,其特征在于,所述以所述基准图像为准,对所述实测图像进行容差分割,得到候选点集,包括:
确定免检区域;
以所述基准图像为准,对所述实测图像中除所述免检区域之外的区域进行容差分割,得到所述候选点集。
7.根据权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述根据所述目标点集确定所述实测图像中的报警区域,包括:
确定所述实测图像中的感兴趣区域;
从所述目标点集中寻找属于所述感兴趣区域的像素点,得到报警点集;
根据所述报警点集确定所述报警区域。
8.一种图像处理装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取开模误差在容许范围内的多张图像,得到模具的多张模板图像;
第一处理模块,用于从所述多张模板图像中选取基准图像,以所述基准图像为准,依次对所述多张模板图像中除所述基准图像之外的剩余模板图像进行容差分割,得到容差点集;
第二处理模块,用于获取所述模具的实测图像,以所述基准图像为准,对所述实测图像进行容差分割,得到候选点集;
过滤模块,用于根据所述容差点集过滤所述候选点集,得到目标点集;
确定模块,用于根据所述目标点集确定所述实测图像中的报警区域。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7中任一所述的图像处理方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一所述的图像处理方法。
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