[发明专利]一种微机械谐振式压力传感器及制造方法在审
申请号: | 202110299610.6 | 申请日: | 2021-03-19 |
公开(公告)号: | CN113063529A | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
发明(设计)人: | 饶宾期;周凯;刘婧琦 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | G01L1/16 | 分类号: | G01L1/16;G01L1/22;G01L9/00;G01L9/04;G01L9/08 |
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地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 微机 谐振 压力传感器 制造 方法 | ||
1.一种微机械谐振式压力传感器,其特征在于:具有双梁差分式结构;所述结构具有谐振梁、支撑梁、感压膜;所述谐振梁位于感压膜上方;所述谐振梁的根部有激励电阻和检查电阻;所述谐振梁、感压膜是由一块(100)面SOI硅片在腐蚀液中经过各向异性腐蚀后得到;所述谐振梁由低压化学气相法淀积的氮化硅薄膜、支撑梁和硅层组成;
所述传感器结构的制造方法如下:
原始硅片是(100)面双面抛光SOI硅片,在硅片正反两面制作绝缘层;
光刻背腐蚀窗口,去除背腐蚀窗口内的绝缘层,并利用各向异性腐蚀工艺得到背腐蚀坑;
去除背面的绝缘层,将SOI硅片与盖板键合,在键合后的硅片背面制作绝缘层保护;
硅片正面绝缘层上沉积多晶硅薄膜,硅片正面硼扩散、光刻并刻蚀多晶硅薄膜形成激励电阻和检查电阻;
正面沉积氮化硅掩蔽层,光刻谐振梁的掩膜图形,刻蚀图形外的氮化硅掩蔽层和绝缘层;
正面刻蚀谐振梁图形外的硅层,光刻焊盘掩膜图形,刻蚀焊盘上的氮化硅掩蔽层;
在氢氟酸腐蚀埋氧化层,释放谐振梁和压感膜。
2.根据权利要求1所述的一种微机械谐振式压力传感器,其特征在于:所述传感器具有双梁差分式结构,两根梁对称且具有相同固有频率。
3.根据权利要求1所述的一种微机械谐振式压力传感器,其特征在于:所述SOI硅片的电阻率小于0.5Ω·cm。
4.根据权利要求1所述的一种微机械谐振式压力传感器,其特征在于:所述硅片正面硼扩散是在980℃,氮气坏境,扩散时间为50分钟。
5.根据权利要求1所述的一种微机械谐振式压力传感器,其特征在于:所述腐蚀液为氢氧化钾溶液。
6.根据权利要求1所述的一种微机械谐振式压力传感器,其特征在于:所述背腐蚀坑的深度至少达到150微米。
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