[发明专利]一种光电耦合器的试验测试系统及测试方法在审
申请号: | 202110298363.8 | 申请日: | 2021-03-19 |
公开(公告)号: | CN112986783A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 顾汉玉;季伟;徐刚;陈泓翰 | 申请(专利权)人: | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 何兵;吕诗 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 耦合器 试验 测试 系统 方法 | ||
1.一种光电耦合器的试验测试系统,其特征在于:包括试验测试设备、数据监测与处理模块和测试分析评估模块;
试验测试设备用于对被测试的光电耦合器的输入端进行输入电压控制。
数据监测与调控模块用于实时采集光电耦合器在输入电压的控制下以及当前测试环境中的温度和湿度的参数影响下的输出端电压以及光电耦合器输入端的电流,根据输出端电压动态调控输入电压,直至输出端电压处于稳定电压状态,并分析输入电压调控过程中,受光部件的集电极电流与LED驱动的正向电流数值;
测试分析评估模块在同一测试环境下,依次提取数据监测与调控模块调控过程中的各输入电压下所对应的受光部件的集电极电流以及LED驱动的正向电流数值,采用电流传输比计算公式统计各输入电压下光电耦合器的电流传输比,并根据各输入电压下的电流传输比分析出光电耦合器所对应的故障种类。
2.根据权利要求1所述的一种光电耦合器的试验测试系统,其特征在于:对光电耦合器进行故障种类进行分类测试,具体包括以下步骤:
步骤1、提取同一故障类型下各输入电压数值,建立故障类型输入电压集,vk表示为第k个输入测试的电压,k=1,2,...;
步骤2、提取n个样本数据作为训练样本,分别训练n个训练样本所对应的故障类型;
步骤3、建立不同故障类型下,输入电压集所对应的LED驱动电流集和受光部件的集电极电流集,P=1,2,3,4,5,分别对应的故障类型相对应,即芯片键合点安装不牢、硅胶不足、芯片键合点金线断裂、二极管击穿和无故障状态;
步骤4、分析各故障类型下光电耦合器所对应的的电流传输比集,,k=1,2,3,...,并对电流传输比集构建电流传输比特征向量,表示为第P个故障类型下第k个输入电压数值所对应的电流传输比数值;
步骤5、提取Q个待检测光电耦合器在各输入测试电压下的LED驱动电流集以及受光部件的集电集电流集,并采用电流传输比公式计算待检测光电耦合器的电流传输比,且对待检测光电耦合器构建电流传输比特征向量,j=1,2,...,Q;
步骤6、统计Q个待检测光电耦合器的电流传输比特征向量与各故障类型下的电流传输比特征向量进行欧式距离计算,i=1,2,...,k,用于表示第j个待检测光电耦合器的电流传输比与第P个故障类型下的电流传输比间的欧式距离;
步骤7、统计电流传输比特征向量所对应的待检测光电耦合器的故障种类属于第y个故障种类的匹配系数;
步骤8、筛选出电流传输比特征向量与各故障种类间的匹配系数最大的匹配系数,并将最大的匹配系数所对应的故障类型归于第j个待检测光电耦合器所对应的故障种类。
3.根据权利要求2所述的一种光电耦合器的试验测试系统,其特征在于:待检测光电耦合器的故障种类属于第y个故障种类的匹配系数的计算公式为,y∈P,Q表示为m个待检测光电耦合器中存在第y个故障种类的个数,n表示为训练样本的个数,且nm,用于表示第j个待检测光电耦合器与第y个故障种类间的匹配系数,y属于P的数值范围,表示为干扰比例系数,当故障类型种类不同时,对应的也不同,即芯片键合点安装不牢、硅胶不足、芯片键合点金线断裂、二极管击穿故障类型所对应的干扰比例系数分别为0.58,0.65,0.72,0.36,0.12。
4.根据权利要求1所述的一种光电耦合器的试验测试系统,其特征在于:所述试验测试系统还包括环境模拟测试模块和参数干扰校准模块;
环境模拟测试模块用于控制光电耦合器所在测试环境中的温度和湿度数值,并实时采集测试环境中的温度和湿度;
参数干扰校准模块用于分别动态调整后的测试环境中的温度和湿度,分别获取不同温度和湿度数值所对应的波动稳定率,根据光电耦合器的波动稳定率分别筛选出波动稳定率处于各阈值下的温度界限值和湿度界限值,以分析出温度和湿度范围分别光电耦合器的温度干扰影响系数和湿度干扰影响系数。
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