[发明专利]模拟测试方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本公开实施例提供一种模拟测试方法、装置和计算机可读存储介质，所述方法包括：接收前眼图，获得所述前眼图的眼高数据和眼宽数据，对所述前眼图的眼高数据和眼宽数据进行眼图均衡(EQ)处理，得到模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据；获取测试温度值，根据所述测试温度值和预先获得的温度补偿函数计算得到温度补偿值；用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据。通过对模拟的后眼图眼高和眼宽数据进行温度补偿，可以避免因环境温度导致的眼图传输信号衰减，使测试结果更加准确。

技术领域

本公开实施例涉及显示技术领域，具体涉及一种模拟测试方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

眼图是一系列数字信号在示波器上累积而显示的图形，它包含了丰富的信息，从眼图上可以观察出码间串扰和噪声的影响，体现了数字信号整体的特征，从而估计系统优劣程度，因而眼图分析是高速互连系统信号完整性分析的核心。

在测试源极驱动器(Source IC，S-IC)时，SOC(Sstem On a Chip，片上系统)传输到S-IC(Source IC，源极驱动器)前的眼图为前眼图，经过S-IC处理后的眼图为后眼图，在实际测试时，可通过眼图均衡(EQ，Equalizer)算法来模拟S-IC接收到的数据，实现对产品的测试评价。

发明内容

本公开实施例提供一种模拟测试方法、装置及计算机可读存储介质，可以得到更为准确的测试结果。

一方面，本公开实施例提供了一种模拟测试方法，包括：

接收前眼图，获得所述前眼图的眼高数据和眼宽数据，对所述前眼图的眼高数据和眼宽数据进行眼图均衡(EQ)处理，得到模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据；

获取测试温度值，根据所述测试温度值和预先获得的温度补偿函数计算得到温度补偿值；

用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据。

在示例性实施方式中，所述获取测试温度值包括：

采集测试现场的温度值，或者获取测试者设置的要模拟的环境温度值。

在示例性实施方式中，所述模拟测试方法用于模拟源极驱动电路接收到的数据。

在示例性实施方式中，所述温度补偿函数为：

其中：t为温度，单位为摄氏度，k₁、k₂为S-IC参数。

在示例性实施方式中，所述用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据，包括：采用以下算式获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据：

V_eye(后)’＝T(t)*V_eye(后)，PE_eye(后)’＝T(t)*PE_eye(后)，

其中，T(t)为温度补偿值，V_eye(后)’为补偿后的模拟眼高数据，V_eye(后)为模拟的后眼图眼高数据，PE_eye(后)’为补偿后的模拟眼宽数据，PE_eye(后)为模拟的后眼图眼宽数据。

在示例性实施方式中，所述方法还包括：根据所述补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据，还原后眼图图像。

在示例性实施方式中，所述模拟测试方法用于对满足以下任意一种或多种条件的显示面板进行模拟测试：

条件一，尺寸大于或等于65寸或75寸；