[发明专利]一种基桩质量检测装置及其使用方法

说明书

本申请涉及一种基桩质量检测装置，涉及工程检测设备的技术领域，包括顶盘，顶盘为圆盘型结构，顶盘用于同轴设置在基桩顶端面上，顶盘上靠近基桩一侧表面上设置有若干固定机构，固定机构沿顶盘所呈圆形均匀间隔设置，固定机构用于连接顶盘和基桩，顶盘上靠近基桩的一侧表面上设置有若干升降机构，升降机构上连接有回转检测机构，升降机构用于驱动回转检测机构沿竖直方向移动，回转检测机构包括回转环，回转环用于同轴套设在基桩上，回转环上靠近基桩一侧设置有若干激光测距仪，激光测距仪射出灯光方向均指向回转环横截面圆心。本申请具有方便施工人员检测基桩施工质量的效果。

技术领域

本申请涉及工程检测设备的技术领域，尤其是涉及一种基桩质量检测装置及其使用方法。

背景技术

基桩是打入地下用于支撑建筑结构，使建筑结构不沉陷的桩。在工程领域中，基桩经常使用钢筋混凝土制成，基桩不仅在建筑业中有着广泛应用，在安装风力发电机等大型设施时，也需要施工浇筑基桩，再将设备安装在基桩上，从而使设备具有较强的稳定性和安全性。

基桩的施工质量与建筑和设备的稳定性密切相关。相关的基桩质量检测还需要施工人员手动完成，施工人员需要检测基桩上伸出至地上一端的顶端面，检测内容包括水平度、表面平整度等，施工人员还需要检测基桩的侧壁，从而收集基桩圆柱度、横截面圆度等数据，进而能够判断基桩的施工质量并验收。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：用于支撑大型建筑或设备的基桩为直径较大的圆柱形结构，基桩表面积较大，检测基桩圆柱度、横截面圆度等参数时，需要施工人员手持设备或量具多次检测，造成不便。

发明内容

为了方便施工人员检测基桩施工质量，本申请提供一种基桩质量检测装置。

本申请提供的一种基桩质量检测装置采用如下的技术方案：

一种基桩质量检测装置，包括顶盘，顶盘为圆盘型结构，顶盘用于同轴设置在基桩顶端面上，顶盘上靠近基桩一侧表面上设置有若干固定机构，固定机构沿顶盘所呈圆形均匀间隔设置，固定机构用于连接顶盘和基桩，顶盘上靠近基桩的一侧表面上设置有若干升降机构，升降机构上连接有回转检测机构，升降机构用于驱动回转检测机构沿竖直方向移动，回转检测机构包括回转环，回转环用于同轴套设在基桩上，回转环上靠近基桩一侧设置有若干激光测距仪，激光测距仪射出灯光方向均指向回转环横截面圆心。

通过采用上述技术方案，通过在顶盘上设置固定机构,使用人员能够通过固定机构将顶盘同轴固定在基桩上,减少顶盘在基桩上水平滑移的几率,通过在顶盘上设置升降机构,使用人员能够通过升降机构使回转检测机构竖直移动,进而提升回转检测机构检测基桩侧壁的范围,通过使回转环同轴套设在基桩外,在回转环上设置激光测距仪,使用人员能够通过使若干激光测距仪照在基桩侧壁上,从而收集若干激光测距仪至基桩侧表面的间距,使用人员通过计算激光测距仪读数的差值,可判断基桩横截面圆度、基桩圆柱度等参数，具有方便使用人员检测基桩施工质量的效果。

可选的，顶盘圆心处设置有激光灯，激光灯设置在顶盘上靠近基桩一侧表面上，激光灯射出灯光方向相对顶盘垂直，顶盘上开设有若干观测槽。

通过采用上述技术方案，通过在顶盘圆心处设置激光灯，使用人员能够在基桩顶端面圆心处设置标记，在基桩上移动顶盘，直至激光灯射出光点与标记重合，进而方便使用人员快速将顶盘同轴连接在基桩上。

可选的，顶盘上靠近基桩一侧设置有若干支架，支架上远离顶盘一端设置有万向轮。

通过采用上述技术方案，通过在顶盘上设置支架，在支架上设置万向轮，使顶盘能够通过万向轮在基桩顶端面上水平滑移，方便使用人员调整顶盘位置。

可选的，固定机构包括若干滑轨、固定板、滑动板和螺杆，滑轨设置在顶盘上，固定板设置在滑轨上靠近顶盘圆心一端，滑动板嵌入并滑动连接在滑轨中，滑动板设置在固定板上远离顶盘圆心一侧，滑动板滑动方向指向顶盘圆心，螺杆贯穿滑动板且与滑动板螺纹连接，螺杆一端转动连接在固定板上。