[发明专利]电子设备

说明书

本申请实施例公开一种电子设备，该电子设备包括：设置在靠近电子设备外部一侧的盖板；设置在电子设备内部与盖板相对一侧的光源；设置在电子设备内部与盖板相对一侧的传感器；和设置在盖板上的膜层，膜层的厚度可随温度变化；光源发射的光线依次透过膜层和盖板，并由待测温物体反射形成反射光线，反射光线依次透过盖板和膜层后形成测温光线，且测温光线能够入射至传感器。本申请通过在电子设备中设置体积较小的厚度随温度变化的膜层，在实现温度测量的基础上，不会过多占用电子设备的空间。

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种电子设备。

背景技术

温度测量已经广泛存在于家庭、工业制造、航海、宇航等诸多领域，温度测量的方法包括多种方式，常见的测温方式有热成像方案，热成像方案是通过非制冷红外焦平面探测器实现测温功能。但是，该非制冷红外焦平面探测器由于体积较大，会占用电子设备的较多空间，并且成本较高。

发明内容

本申请实施例提供一种电子设备，在实现温度测量的基础上，不会过多占用电子设备的空间。

本申请实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括：

盖板，所述盖板设置在所述电子设备靠近所述电子设备外部一侧；

光源，所述光源设置在所述电子设备内部与所述盖板相对一侧；

传感器，所述传感器设置在所述电子设备内部与所述盖板相对一侧；和

膜层，所述膜层设置在所述盖板上，所述膜层的厚度可随温度变化；

所述光源发射的光线依次透过所述膜层和所述盖板，并由待测温物体反射形成反射光线，所述反射光线依次透过所述盖板和所述膜层后形成测温光线，且所述测温光线能够入射至所述传感器。

本申请实施例中，通过在电子设备中设置厚度随温度变化的膜层，利用传感器接收到在膜层不同厚度下形成的不同测温光线，得到膜层的反射率变化，进而实现对待测温物体的温度测量，并且由于膜层体积较小，不会过多占用电子设备的空间。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

图2是本申请实施例提供的电子设备的第一种结构框图。

图3是本申请实施例提供的膜层的结构示意图。

图4是本申请实施例提供的不同材料的膜层对应的光源波段与反射率的关系示意图。

图5是本申请实施例提供的电子设备的第二种结构框图。

图6是本申请实施例提供的膜层的反射率与温度的关系示意图。

图7是本申请实施例提供的电子设备测温的场景示意图。

图8是本申请实施例提供的电子设备的第三种结构框图。

图9是本申请实施例提供的电子设备的第四种结构框图。

图10是本申请实施例提供的电子设备的第五种结构框图。

图11是本申请实施例提供的电子设备的测温方法的第一种流程示意图。

图12是本申请实施例提供的电子设备的测温方法的第二种结构示意图。

具体实施方式