[发明专利]一种适用于多天线测试的转接装置及其使用方法

权利要求书

1.一种适用于多天线测试的转接装置，其特征在于，包括依次层叠的第一金属地板、第一介质层、第二金属地板、第二介质层和天线层，还包括金属柱组、用于向所述天线层载入的天线体馈电的第一探针和用于与接头相接的第二探针；所述第一金属地板上设置有镂空槽，所述镂空槽内设置有梯度微带；所述梯度微带的宽度存在梯度变化；所述梯度微带的一端与所述第一探针相接，另一端与所述第二探针相接；所述金属柱组中的金属柱沿着镂空槽的边依次排列；所述金属柱一端与第一金属地板连接，另一端与第二金属地板连接；所述接头固定在所述第一金属地板上；所述第一金属地板上设置有至少三个镂空槽，所述金属柱组的数目与所述镂空槽的数目匹配；中心工作频率波长为λ；所述第一金属地板、第一介质层、第二金属地板和第二介质层的俯视面均为边长大小一致的矩形；矩形的长边长度为1λ-2λ，宽边长度为1λ-2λ。

2.如权利要求1所述的适用于多天线测试的转接装置，其特征在于，相邻的两金属柱之间的间距小于0.25λ。

3.如权利要求1至2任一所述的适用于多天线测试的转接装置，其特征在于，所述梯度微带由依次连接的第一微带线、第二微带线和第三微带线构成；所述第二微带线的宽度小于第三微带线的宽度，且大于第一微带线的宽度；所述第一微带线的远离第二微带线端与所述第一探针相接，所述第三微带线的远离第二微带线端与所述第二探针相接；所述梯度微带的特征阻抗与接头的特征阻抗匹配。

4.如权利要求3所述的适用于多天线测试的转接装置，其特征在于，所述第一微带线、所述第二微带线和所述第三微带线位于同一直线方向上；所述梯度微带的边沿与所述镂空槽的边沿之间存在间隙；沿着第一探针指向第二探针的方向，所述镂空槽的宽度也随着所述梯度微带的宽度阶梯性地变宽；所述镂空槽的宽度阶梯性突变位置位于第一微带线与第二微带线的相接点旁以及第二微带线与第三微带线的相接点旁；所述镂空槽的与接头相接端的边沿轮廓与接头外轮廓匹配，所述镂空槽的靠近所述第一探针端的边沿呈圆弧状或为直线。

5.如权利要求4所述的适用于多天线测试的转接装置，其特征在于，相邻两第一探针之间的距离大于所述镂空槽的长度。

6.如权利要求5所述的适用于多天线测试的转接装置，其特征在于，所述接头为同轴接头，其内导体与所述第二探针相接，其外导体与所述镂空槽的边沿相接；所述第二金属地板上设置有方便第一探针穿过的圆孔；圆孔的直径大于第一探针的直径，且小于0.25λ；所述第一介质层的厚度为0.1mm-1mm，介电常数为1-10；所述第二介质层的厚度为0.1mm-0.5mm，介电常数为2-6。

7.一种根据权利要求5至6任一所述的适用于多天线测试的转接装置的使用方法，其特征在于，将待测天线体置于所述天线层上，使第一探针向所述天线体馈电；天线体的投影均落在所述第二介质层上。

8.如权利要求6所述的适用于多天线测试的转接装置的使用方法，其特征在于，通过令天线体的辐射贴片中心偏离第一探针位置，使第二介质层的同一侧位置上的相邻两天线体辐射贴片表面之间形成方向正交或相反的馈电电流。