[发明专利]一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法

权利要求书

1.一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，包括自动测试机、AC-cal载具板、Odd-Even载具板，其特征在于：具体校准方法如下：

（1）在自动测试机上安装AC-cal载具板；

（2）通过软件对AC-cal载具板上的端口通道进行配置，分别是1个接收信号通道及127个发送信号通道；

（3）发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号；

（4）接收信号通道以50ps的步长，在上升沿或者下降沿左右32步长的范围去搜索发送信号的上升沿或者下降沿的变化时刻，记录为Tx1；

（5）选取接收信号通道的最大时刻为Tb，其余接收信号通道与最大接收信号通道的差∆Tx= Txn-Tb用于补偿，n为通道数；

（6）将∆Tx的补偿数据补偿在自动测试机系统内；

（7）如果步骤（6）中的∆Tx的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（4），若Tx2在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；

（8）在自动测试机上安装Odd-Even载具板；

（9）通过软件对Odd-Even载具板上的端口通道进行配置，配置奇数通道为发送信号通道，与奇数通道连接的偶数通道为接收信号通道；

（10）设定偶数的接收信号通道的固定的时刻去捕捉信号的上升沿、下降沿的变化时刻；

（11）奇数的发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号，每个周期的上升沿或者下降沿以100ps后移，直到接收信号通道捕捉到发送信号通道的上升沿或者下降沿的变化，并记录该时刻为Tx1’；

（12）配置偶数通道为发送信号通道，与偶数通道连接的奇数通道为接收信号通道，重复步骤（11），并记录时刻为Tx1’；

（13）选取输出信号部分通道的最大时刻为Tb’，其余输出信号部分通道与最大输出信号部分通道的差∆Tx’= Txn’-Tb’用于补偿，n为通道数；

（14）将∆Tx’的补偿数据补偿在自动测试机系统内；

（15）如果步骤（14）中的∆Tx’的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（11）及步骤（12），若Tx2’在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；

（16）继续重复步骤（1），至少3次后结束。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，其特征在于：所述的AC-cal载具板上的每个端口的一端分别通过线路与自动测试机相应的端口连接，并且AC-cal载具板上的每个端口的另一端通过线路汇聚一起。

3.根据权利要求1或2所述的一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，其特征在于：所述的AC-cal载具板上有128个通道。

4.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，其特征在于：所述的Odd-Even载具板上的端口通过线路依次两两连接。

5.根据权利要求1或4所述的一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，其特征在于：所述的Odd-Even载具板上有128个通道。