[发明专利]一种电容老化测试系统及其电流检测模块

说明书

本发明涉及一种电容老化测试系统及其电流检测模块，其技术方案要点是：包括：用于采集待测电容的电流信号的传感器电路、用于将电流信号转换为电压信号并放大的信号放大电路、用于将放大后的电压信号转换为数字信号的AD转换电路、用于连接外部网络的通讯电路、用于切换电流采集功能的拨码开关电路、供电电路及控制器；所述传感器电路连接所述信号放大电路；所述信号放大电路连接所述AD转换电路；所述AD转换电路、供电电路、通讯电路和拨码开关电路均连接所述控制器；本申请具有能够同时对多个电容进行老化测试，提高测试效率的优点。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，更具体地说，它涉及一种电容老化测试系统及其电流检测模块。

背景技术

电容是集成电路板中常见元器件，但是电容是有寿命的，在经过一段时间使用后会因为老化而失效。

目前工厂使用的还是小规模手动测量，即由工人手动对的电容进行加电，然后隔段时间进行测量，这样做的规模较小，无法满足大批量测试，并且无法及时监测到是那一路电阻失效发生了短路，因此还有待改进的空间。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种电容老化测试系统，具有能够同时对多个电容进行老化测试，提高测试效率的优点。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种电流检测模块，包括：用于采集待测电容的电流信号的传感器电路、用于将电流信号转换为电压信号并放大的信号放大电路、用于将放大后的电压信号转换为数字信号的AD转换电路、用于连接外部网络的通讯电路、用于切换电流采集功能的拨码开关电路、供电电路及控制器；所述传感器电路连接所述信号放大电路；所述信号放大电路连接所述AD转换电路；所述AD转换电路、供电电路、通讯电路和拨码开关电路均连接所述控制器。

可选的，所述通讯电路包括：485通讯组件、CAN通讯组件和USB通讯组件；所述485通讯组件、CAN通讯组件和USB通讯组件均连接所述控制器。

可选的，所述485通讯组件包括第一芯片、第二芯片、第一继电器、第一开关、第二开关、第一电容、第二电容、第三电容、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第七电阻；所述第一芯片的第1端连接输入电压；所述第一芯片的第1端连接所述第一继电器的第1端；所述第一芯片的第1端通过所述第一电容连接所述第一继电器的第3端；所述第一芯片的第1端通过所述第一电容接地；所述第一芯片的第2端连接所述控制器；所述第一芯片的第3端连接所述控制器；所述第一芯片的第4端连接所述第一继电器的第3端；所述第一芯片的第5端连接所述第一继电器的第4端；所述第一芯片的第5端连接所述第二芯片的第5端；所述第一芯片的第6端连接所述第二芯片的第4端；所述第一芯片的第7端连接所述第一芯片的第1端；所述第一芯片的第8端通过所述第二电容连接所述第一继电器的第4端；所述第一芯片的第8端连接所述第一继电器的第2端；所述第一芯片的第8端连接所述第二芯片的第8端；所述第一芯片的第8端通过第三电容连接所述第二芯片的第5端；所述第一开关的第1端连接所述第二开关的第1端；所述第一开关的第2端通过所述第一电阻连接所述第二开关的第2端；所述第一开关的第2端通过所述第二电阻连接所述第一芯片的第5端；所述第一开关的第2端连接所述第二芯片的第7端；所述第一开关的依次通过第二电阻和第三电阻连接所述第二芯片的第3端；所述第一开关的第2端依次通过第二电阻和第四电阻连接所述第二芯片的第2端；所述第二开关的第1端依次通过第五电阻和第六电阻连接所述第二芯片的第3端；所述第二开关的第1端依次通过第五电阻和第七电阻连接所述第二芯片的第2端；所述第二开关的第1端连接所述第二芯片的第6端；所述第二开关的第2端通过所述第一电阻连接所述第二芯片的第7端。