[发明专利]一种紧缩场极化偏转角的检测方法及装置

说明书

本发明涉及一种紧缩场极化偏转角的检测方法及装置，该方法包括：对极化敏感标准目标进行单频点转角RCS测量，获取RCS实测曲线；在仿真软件中创建模型，用平面波代替紧缩场馈源，进行单频点转角RCS仿真，且在仿真过程中通过改变平面波的极化方向角度获取多条不同极化方向角度下的RCS仿真曲线；将RCS实测曲线分别与各条RCS仿真曲线进行比较，找到与RCS实测曲线最接近的RCS仿真曲线；若RCS实测曲线与该最接近的RCS仿真曲线之间的偏差不超过设定阈值，则得到紧缩场馈源的极化偏转角等于该最接近的RCS仿真曲线对应的极化方向角度。本发明提供了一种简单易行的紧缩场极化偏转角量化检测技术。

技术领域

本发明涉及目标探测技术领域，尤其涉及一种紧缩场极化偏转角的检测方法及装置。

背景技术

紧缩场技术作为模拟远场测量的重要手段，近些年正受到越来越广泛的关注。常用的紧缩场搭建于内壁贴覆吸波材料的屏蔽暗室内，通过初级馈源和反射面的共同作用，在暗室的特定区域内形成准平面波照射的测量区域(即静区)，待测目标即放置于该区域内。

由于紧缩场的工作原理类似于反射面天线，在对待测目标进行测量时，同样需要考虑极化偏转效应对测量结果的影响。通常来说，对于结构简单、边角较少的目标，其电磁特性对紧缩场极化不敏感，测量结果与紧缩场极化偏转角关系不大，比如球体、圆柱体等；但对于结构复杂、边角较多的目标，其电磁特性对紧缩场极化极其敏感，紧缩场微小的极化偏转角都会引起较大的测量偏差，比如飞行器、舰船等。鉴于当前紧缩场极化偏转理论研究尚不充分，迫切需要有效的量化检测手段，指导紧缩场极化偏转角的准确调整。

发明内容

本发明的目的是针对上述至少一部分不足之处，提供一种极化偏转角的量化检测方法，以实现指导紧缩场极化偏转角准确调整，确保紧缩场测量精度达到指定要求。

为了实现上述目的，本发明提供了一种紧缩场极化偏转角的检测方法，包括如下步骤：

S1、在紧缩场静区内，对极化敏感标准目标进行单频点转角RCS测量，获取RCS实测曲线；

S2、根据所述极化敏感标准目标的尺寸，在仿真软件中创建模型，用平面波代替紧缩场馈源，进行与步骤S1中的测量条件相对应的单频点转角RCS仿真，且在仿真过程中，通过改变平面波的极化方向角度，获取多条不同极化方向角度下的RCS仿真曲线；

S3、将所述RCS实测曲线分别与各条不同极化方向角度下的RCS仿真曲线进行比较，找到与所述RCS实测曲线最接近的RCS仿真曲线；

S4、若所述RCS实测曲线与该最接近的RCS仿真曲线之间的偏差不超过设定阈值，则得到紧缩场馈源的极化偏转角等于该最接近的RCS仿真曲线对应的极化方向角度；否则返回步骤S2，并提高仿真的精度。

优选地，所述的紧缩场极化偏转角的检测方法还包括如下步骤：

S5、若该最接近的RCS仿真曲线对应的极化方向角度不为0°，则参照极化方向角度绕轴旋转紧缩场馈源，并返回步骤S1进行复测，直至所述RCS实测曲线与极化方向角度为0°的RCS仿真曲线之间的偏差不超过设定阈值。

优选地，所述的紧缩场极化偏转角的检测方法还包括如下步骤：

S6、根据紧缩场的测量周期及使用频次，定期返回步骤S1进行复测。

优选地，所述极化敏感标准目标为三面角反射器。

优选地，所述步骤S1中，对极化敏感标准目标进行单频点转角RCS测量时，将所述三面角反射器置于紧缩场静区内，调整所述三面角反射器的姿态，使所述三面角反射器的角反口面垂直于来波方向，RCS测量系统调至设定频点，并设置转台的旋转角度，测量对应的RCS数据。

优选地，所述步骤S1中，设置转台的旋转角度，测量对应的RCS数据时，转台的扫角范围为±45°，扫描间隔为0.5°。