[发明专利]一种复杂供电模组批量测试自动上电控制装置及方法

说明书

本申请公开的复杂供电模组批量测试自动上电控制装置，与现有技术相比，包括：测试底板；设置于所述测试底板上的微控制器以及与所述微控制器连接的时序控制电路；设置于所述测试底板上，用以放置以及压合供电模组的模组治具槽；与所述测试底板连接，用以提供测试电源输入的外部直流电源；设置于所述测试底板以及所述外部直流电源之间，用以对所述测试电源输入进行延时处理的延时控制模块。本发明涉及的技术方案，相较于现有技术而言，其能够减少模组测试时间，减小人工误操作的发生率，提高模组测试的工作效率。

技术领域

本申请涉及供电模块测试控制技术领域，更具体地说，尤其涉及一种复杂供电模组批量测试自动上电控制方法及装置。

背景技术

随着技术信息化、科技化的发展，集成电路越来越复杂，其中的芯片所需的供电越来越细化，为保证芯片正常启动，对外围供电电路不仅有不同电压值的要求，还对不同电压及IO口的时序有要求。例如某些模组，模组本身需要外围多路不同电压值电源供电，对电源上电时序及外部使能信号有明确要求，这对模组测试底板及测试治具的电源控制有一定挑战。尤其是批量测试治具自动上电控制上，一般自动压合即可上电的控制系统，容易导致上电电源抖动，无法保证模组与测试顶针接触完全后再上电。

目前，在模组直接供电的电源时序控制上，一般通过外围电路设计以及时序控制电路得以实现，即设计一款自带电源时序控制模组测试底板。对于批量测试治具自动上电控制上，则通过测试底板配合外部手动开关，在手工压合好模块后，操作员按压电源开关，配合上电控制系统，保证模块正常上电，以此解决“上电电源抖动，无法保证模组与测试顶针接触完全后再上电”的问题。但是，此技术方案增加操作员手工动作，测试耗时较长，且容易出现误操作，不利于生产使用。

因此，如何提供一种复杂供电模组批量测试自动上电控制装置及方法，其能够减少模组测试时间，减小人工误操作的发生率，提高模组测试的工作效率，已经成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供一种复杂供电模组批量测试自动上电控制装置及方法，其能够减少模组测试时间，减小人工误操作的发生率，提高模组测试的工作效率。

本申请提供的技术方案如下：

本申请提供一种复杂供电模组批量测试自动上电控制装置，包括：测试底板；设置于所述测试底板上的微控制器以及与所述微控制器连接的时序控制电路；设置于所述测试底板上，用以放置以及压合供电模组的模组治具槽；与所述测试底板连接，用以提供测试电源输入的外部直流电源；设置于所述测试底板以及所述外部直流电源之间，用以对所述测试电源输入进行延时处理的延时控制模块；与所述测试底板连接的测试治具；所述测试治具包括：与所述测试底板连接的测试台；设置于所述测试台上的门型安装支架；与所述门型安装支架连接的压合机构；设置于所述测试台上竖向的连接导柱；与所述连接导柱连接的压板，所述压合机构一端连接所述压板，所述连接导柱用以辅助所述压板在竖直方向上下运动；设置于所述压板底面，用以压合所述供电模组的压块。

进一步地，在本发明一种优选方式中，所述压合机构包括：设置于所述门型安装支架上的压合手柄；与所述压合手柄连接的压杆；与所述压杆连接的固定块，所述固定块连接所述压杆以及所述压板。

进一步地，在本发明一种优选方式中，所述复杂供电模组批量测试自动上电控制装置还包括：设置于所述模组治具槽上，与所述微控制器通信连接的数据采集模块；设置于所述延时控制模块以及所述外部直流电源之间的感应控制开关，所述感应控制开关与所述微控制器通信连接。

进一步地，在本发明一种优选方式中，所述数据采集模块包括：用以实时采集压合距离数据的距离传感器或者用以实时采集压合压力数据的压力传感器；所述微控制器基于所述压合距离数据或者所述压合压力数据控制所述感应控制开关自动启闭。

进一步地，在本发明一种优选方式中，所述压合距离数据为所述压块与所述模组治具槽之间的距离；所述压合压力数据为所述压块在压合所述供电模组时，与所述压力传感器接触产生的压力。