[发明专利]一种介电温谱测试方法有效

专利信息
申请号: 202110270319.6 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN113325044B 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 宋长青;邵海宝;王敬时;周童 申请(专利权)人: 南通大学
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226019*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 介电温谱 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种介电温谱测试方法,首先将待测对象放置于变温测试箱中,对待测对象施加预设频率的交流电信号,以测试待测对象的介电特性,其特征在于:

采用推挽式温度控制法,控制待测对象的温度使其随着时间线性地升高或降低;

具体测试时,还包括以下步骤:

将待测试样放置于变温测试箱内,在计算机上设定介电测试环境的温度随时间线性升高或降低的变温速率,设定目标温度值,设定介电测试的频率;

开始介电温谱的测试,控制变温测试箱内的温度按照设定的变温速率而随时间线性升高,介电测试环境的温度随时间线性升高过程中,阻抗测试仪持续地以设定的频率对待测对象进行介电测试,变温测试箱中的温度传感器的测量数值、阻抗测试仪的介电测试数据通过连接线传输至计算机,由计算机进行存储和后期分析,测试数据保存为数据文件;

当介电测试环境的温度达到设定目标温度值时,停止测试;

测试完成后得到待测对象在设定频率下的介电温谱。

2.一种介电温谱测试方法,首先将待测对象放置于变温测试箱中,对待测对象施加预设频率的交流电信号,以测试待测对象的介电特性;其特征在于:

温度控制所采用的制冷器基于焦耳-汤姆孙效应制冷器;采用推挽式温度控制法,控制待测对象的温度使其随着时间线性地升高或降低;

具体测试时,还包括以下步骤:

在计算机上设定介电测试环境的温度随时间线性升高或降低的变温速率,设定目标温度值,设定介电测试的频率、设定介电测试的时间间隔;

开始介电温谱的测试,控制变温测试箱内的温度按照设定的变温速率而随时间线性升高,介电测试环境的温度随时间线性升高过程中,阻抗测试仪以设定的时间间隔、设定的频率,间断地测试介电特性,变温测试箱中的温度传感器的测量数值、阻抗测试仪的介电测试数据通过连接线传输至计算机,由计算机进行存储和后期分析,测试数据保存为数据文件;

当介电测试环境的温度达到设定目标温度值时,停止测试;

测试完成后得到待测对象在设定频率下的介电温谱。

3.如权利要求1或2所述的测试方法,其特征在于:测量的结果保存为多个数据文件,每个数据文件代表不同温度下的待测对象的介电频谱。

4.如权利要求1或2所述的测试方法,其特征在于:采用介电温谱测量系统,所述测量系统特征如下:阻抗测试仪与介电测试电极连接;采用变温测试箱为待测试样提供变温环境;测量系统中的计算机用于运行测量系统软件;显示器用于显示操作与测量信息;变温测试箱内设置有温度传感器和温度控制器。

5.如权利要求1或2所述的测试方法,其特征在于:阻抗测试仪和变温测试箱均连接至计算机,计算机能够通过程序对变温测试箱、阻抗测试仪发出指令,并接收变温测试箱、阻抗测试仪回传的数据。

6.如权利要求2所述的测试方法,其特征在于:

设定介电测试的时间间隔为10ms~1000ms,变温速率的绝对值为0.01℃/s~1℃/s。

7.如权利要求2所述的测试方法,其特征在于:设定介电测试的时间间隔为50ms~500ms,变温速率的绝对值为0.01℃/s~0.05℃/s。

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