[发明专利]一种基于可编程电路的芯片防伪方法在审

专利信息
申请号: 202110267337.9 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN113032852A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 马哲;潘雨洋;李彦昭;李晓伟;张永峰 申请(专利权)人: 北京银联金卡科技有限公司
主分类号: G06F21/79 分类号: G06F21/79;G11C17/16
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 满靖
地址: 100043 北京市石*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 可编程 电路 芯片 防伪 方法
【说明书】:

发明提供一种基于可编程电路的芯片防伪方法:根据排布需求,通过大电流将芯片ROM中的一些电路单元熔断,得到复数个熔断块;结合排布需求对熔断块进行排布;在使用芯片前,将保密内容烧写入经排布且编码后的熔断块中并构造不同的结构特征,使得熔断块具有各不相同的不可逆的可视的防伪特征,其能够通过光学仪器观察;通过电子和/或光学读取方式对防伪特征进行识别校验。优点是:通过对电路单元改变实现保密数据仅能写入一次无法重复烧写,使得保密数据具有不可更改的特性,能够实现编号的唯一性。并且写入的密钥也有保密算法支持以防止密钥被破解。解决现有技术中当数据不稳定导致防伪能力失效,导致防伪芯片失效无法起到防伪作用的问题。

技术领域

本发明涉及防伪技术领域,尤其涉及一种基于可编程电路的芯片防伪方法。

背景技术

纪念币、证照、印章、运钞等产品需要采用专门的防伪技术来保证产品安全。现有技术中多采用专用防伪芯片来实现这以上目的,现有防伪芯片具备高可控(能够抵抗日常生活中变形、潮湿、静电等环境因素)、长寿命(芯片寿命应大于受保护产品使用期限,正常环境下设计使用寿命大于50年,宜达到100年)、高安全(应能抵御已知攻击方式,或攻击成本远大于受保护产品价值)的特点。

为了实现通过防伪芯片实现对产品保护,需要先将UID及校验码烧写入芯片的存储介质中,此环节直接关乎到防伪芯片是否能够有效实现防伪的目的。现有技术中是将UID及校验码等内容编码烧写入RAM等可反复读写的存储器中,以实现对RAM内存储的灵活控制,但该技术易导致不安全的因素。因为在后续的普通读写和受到攻击的过程中,RAM无法保证UID及校验码等内容一直稳定不被造假者篡改,而一旦数据不稳定则会导致防伪能力失效。

所以如何能够提供一种无法被篡改且稳定的芯片防伪方法称为亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供一种基于可编程电路的芯片防伪方法,用以解决现有技术中,由于保密数据烧写在RAM中,导致在普通读写保密数据和保密数据受到攻击的过程中,RAM无法保证UID及校验码等内容一直稳定不被造假者篡改,当数据不稳定导致防伪能力失效,最终导致防伪芯片失效无法起到防伪作用的问题。

为了实现上述目的,本发明技术方案提供了一种基于可编程电路的芯片防伪方法,包括:根据排布需求,通过指令使得大电流将芯片ROM中的电路单元熔断,得到复数个体积相同或不同的熔断块;结合所述排布需求,对所述熔断块进行排布;在使用芯片前,基于可编程电路将保密内容烧写入经排布且编码后的所述熔断块中,在所述熔断块上构造不同的结构特征,使得所述复数个熔断块具有各不相同的不可逆的可视的防伪特征;通过电子和/或光学读取方式对所述防伪特征进行识别校验。

作为上述技术方案的优选,较佳的,采用大电流熔断金属/多晶硅的手段将所述ROM中电路单元中的金属/硅化物熔断,使得当前电路单元开路;

具体的,在大电流电迁移的作用下,金属原子受到运动的导电电子作用沿晶粒从阴极向阳极迁移,阴极的原子减少形成空洞。

作为上述技术方案的优选,较佳的,所述排布需求包括:排布顺序、排布形态,根据所述排布形态和所述排布顺序将所述复数个熔断块依次在ROM表面进行二维排布。

作为上述技术方案的优选,较佳的,保密内容包括:烧写顺序、UID信息、校验码信息。

作为上述技术方案的优选,较佳的,根据所述烧写顺序对所述经保密排布的熔断块进行编码。

作为上述技术方案的优选,较佳的,根据编码顺序将所述UID信息和所述校验码信息分别烧写入不同的所述熔断块中,使得各所述熔断块表面具有不同的图案和镂空。

作为上述技术方案的优选,较佳的,通过RFID或NFC进行防伪校验;通过光学读取方式识别电路单元后检测防伪芯片一致性,通过图像识别获取防伪信息。

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