[发明专利]基于刀尖镜像磁吸附提高薄壁件加工稳定性的方法及装置有效
申请号: | 202110267039.X | 申请日: | 2021-03-10 |
公开(公告)号: | CN113059221B | 公开(公告)日: | 2022-09-20 |
发明(设计)人: | 毛新勇;郝才华;肖长天;刘红奇;李斌 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学;武汉智能装备工业技术研究院有限公司 |
主分类号: | B23C3/00 | 分类号: | B23C3/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 尚威;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 刀尖 镜像磁 吸附 提高 薄壁 加工 稳定性 方法 装置 | ||
本发明公开了一种基于刀尖镜像磁吸附提高薄壁件加工稳定性的方法及装置,属于机械装备结构的动力学分析领域。该方法主要包括如下步骤:(1)在薄壁零件加工过程中施加不同大小的支持力,利用敲击方法确定不同支持力与加工零件局部频响函数关系,为了抑制局部振动,得出支持力最佳范围;(2)通过设计的通电线圈装置对加工刀具进行磁化,使其能够吸附磁性装置;(3)设计不同组合个数的磁力球装置,根据组合个数的不同确定其与磁化后的刀具见的磁力大小;(4)刀具与磁力球镜像分布在薄壁零件两侧进行薄壁零件加工作业,吸附式磁力装置能够随刀具的进给进行移动,增加加工范围内的局部刚度,提高薄壁零件加工质量。
技术领域
本发明属于机械装备结构的动力学分析领域,涉及一种基于刀尖镜像磁吸附提高薄壁件加工稳定性的方法及装置,更具体地,涉及一种基于薄壁零件镜像刀尖吸附磁性装置抑制振动的薄壁零件加工方法。
背景技术
薄壁零件加工过程中,由于其尺寸大、几何形状复杂、固有刚度低等特点,因此很难高质量的对薄壁零件进行装夹,这也是加工薄壁零件过程中产生颤振和静态变形的一种原因。同时由于薄壁零件自身特性,在进行加工过程中,其整体刚度过低、尺寸较大导致刀尖点加工局部的刚度薄弱,使得铣削等加工过程中很容易产生颤振,直接影响到加工质量、降低机床和刀具的使用寿命。因此对于薄壁零件加工过程中的稳定性研究是十分必要的,现有的研究发现,在一定范围内,薄壁零件的尺寸对于加工质量有较大影响,更深层次来看,是加工过程中薄壁零件的局部刚度对加工质量有直接影响。
实验表明,在加工薄壁零件过程中,零件的局部刚度接近或者高于主轴-刀具系统的基频时,加工稳定性将得到明显提高。为了提高薄壁零件加工过程的稳定性,目前比较有效的方法是镜像铣削。传统的径向铣削系统主要由主轴铣削系统、支撑系统和薄壁零件三部分组成。加工过程中,首先将薄壁零件装夹固定,然后通过周期定位,使加工系统和支撑系统保持零件镜像关系进行加工,在力平衡的基础上,Z向的支承力和切削力同时作用于切削点,从而保证加工局部的高刚度,显著提高加工薄壁零件的稳定性。但是,此方法对于零件的形状有较多限制,难于加工曲面及复杂型面的薄壁零件,不具有普适性。
因此研究一种能够面向更多加工条件的提高薄壁零件加工稳定性的方法是必要的。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种基于刀尖镜像磁吸附提高薄壁件加工稳定性的方法及装置,其目的在于,提高加工过程中薄壁零件的局部刚度,降低对薄壁零件的限制,提高薄壁零件加工技术的普适性。
为实现上述目的,本发明提出了一种基于刀尖镜像磁吸附提高薄壁件加工稳定性的方法,包括如下步骤:
(1)对薄壁零件在Z方向上提供不同大小的支持力,同时在Z方向上进行敲击实验,以获得不同支持力下作用力与局部模态振型、局部模态刚度和阻尼比关系中的至少一个;
(2)在加工过程中将刀具磁化;
(3)确定单一磁力球与刀具作用时的磁力及其对薄壁零件产生的支持力;然后根据选定的加工对象和加工条件,按照步骤(1)获得的不同支持力下作用力与系统振型关系、作用力与局部模态刚度关系,选定磁力球的个数形成磁力球组合,以在磁力有效范围内,达到最有效的加工性能;
(4)磁化后的刀具与磁性球体组合产生磁力作用,磁性球体组合通过磁力作用吸附在薄壁零件上且位于刀具镜像侧,磁性球体组合在磁力作用下随刀具的加工轨迹与刀具同步运动;此过程中,由于磁性球体组合的支撑作用增加薄壁零件的局部刚度。
进一步地,步骤(1)中,根据不同支持力下作用力与系统振型关系、作用力与局部模态刚度关系发现,一定范围内,随着作用力的提高,零件局部振型降低,刚度提高,临界切深增强,但随着作用力的增大,相关性不再明显,据此设定薄壁零件加工过程中最合适的支撑力大小;步骤(3)中,根据步骤(1)获得的最合适的支撑力大小以及单一磁力球与刀具作用时的磁力及其对薄壁零件产生的支持力,确定磁性球体组合中磁力球的数量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学;武汉智能装备工业技术研究院有限公司,未经华中科技大学;武汉智能装备工业技术研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110267039.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种浮体稳定性实验持续供电保障装置
- 下一篇:镜头、摄像模组及电子设备