[发明专利]成像光谱装置

权利要求书

1.一种成像光谱装置，其特征在于，所述装置包括：控制器、驱动部件、成像模块和处理模块，所述成像模块包括多目相机，每一目相机设置有CMOS靶面，

每个CMOS靶面的条带区域中设置有相互平行且不重叠的多个量子点条带，且所有CMOS靶面上的量子点条带之间相互平行，至少部分量子点条带透过不同波长的入射光；

所述控制器用于控制所述驱动部件进行推扫；

所述驱动部件在所述控制器的控制下驱动所述成像模块进行移动；

所述多目相机，用于在所述成像模块移动的过程中，利用每一目相机拍摄到多个第一图像；

所述处理模块，用于对每一目相机拍摄到的第一图像进行处理，得到高光谱图像，所述高光谱图像的通道数等于所有量子点条带所透过的入射光的波长种类数。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，每一目相机的产品参数一致，所有CMOS靶面位于同一平面。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，不同CMOS靶面的第一边相互平行，

每个CMOS靶面上的多个量子点条带沿所述CMOS靶面的第二边方向依次设置，每个量子点条带的短边与所述CMOS靶面的第一边垂直，每个量子点条带的短边与所述CMOS靶面的第二边平行或重合，所述第一边与所述第二边相互垂直。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，不同CMOS靶面的第二边位于同一直线上。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，每个CMOS靶面的条带区域的面积大于或等于所在CMOS靶面面积的50％。

6.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，每个CMOS靶面的条带区域自经过CMOS靶面的第二边中点并与第二边垂直的对称轴向所述对称轴的两侧延伸。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，每个CMOS靶面上量子点条带的宽度为1μm-200μm。

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，对每一目相机拍摄到的第一图像进行处理，得到高光谱图像，包括：

根据对应的相机内参数将每一目相机所拍摄到的多个第一图像进行畸变校正；

获取并根据每个第一图像的位姿计算结果，对每个第一图像进行透视变换，得到第二图像；

根据每一目相机的CMOS靶面上设置的多个量子点条带，将每一目相机对应的多个第二图像拼接到一起，得到每一目相机的对应于量子点条带的单条带高光谱图像；

根据确定的不同相机之间的变换矩阵，将所有相机的多个单条带高光谱图像融合在一起形成高光谱图像。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，对每一目相机拍摄到的第一图像进行处理，得到高光谱图像，还包括：

对所述多目相机进行参数标定，得到对应于所述多目相机的相机内参数、相机外参数和畸变参数。

10.根据权利要求1至9任意一项所述的装置，其特征在于，所述装置包括推扫式成像光谱装置。