[发明专利]一种计量器具软件维护性指标度量装置及方法

权利要求书

1.一种计量器具软件维护性指标度量装置，包括：外围仿真平台及与其连接的MCU芯片和上位机检测计算机，其特征在于：

所述MCU芯片，提供软件运行环境，用于装载并实时运行被测软件；

所述上位机检测计算机，用于实现软件模块的辨识和标识、检测过程监控及结果记录分析与评价；

所述外围仿真平台，用于提供MCU芯片与外围交联设备的通信接口，模拟软件运行环境下，外围交联设备的外部特性，并实时向被测软件加载激励数据，接收被测软件运行输出数据，将接收外部接口的数据进行处理，再传输给上位机检测计算机，进行结果记录分析与评价。

2.如权利要求1所述的一种计量器具软件维护性指标度量装置，其特征在于所述上位机检测计算机包括模块辨识和标识模块、检测过程监控模块和结果记录分析与评价模块，模块辨识和标识模块分别与MCU芯片、检测过程监控模块和结果记录分析与评价模块连接，检测过程监控模块又分别与结果记录分析与评价模块和外围仿真平台连接，结果记录分析与评价模块又与外围仿真平台连接；

所述模块辨识和标识模块，用于辨识、记录与法制计量有关的被测软件的模块，并将与法制计量有关的模块标识，不计入模块间的耦合度、模块结构合理性指标度量时的计数值；

所述检测过程监控模块，对软件测试、度量过程进行监控；

所述结果记录分析与评价模块，对软件测试、度量中软件设计文档、规范，以及软件运行过程的数据进行分析和评审，分析评价及统计出相应的模块间的耦合度、模块结构合理性指标值，从而确定度量值。

3.如权利要求1所述的一种计量器具软件维护性指标度量装置，其特征在于所述外围仿真平台包括3路串口数据模块、I/O接口模块、SPI/FLASH模块、I2C/EPROM模块、双口RAM和ARM芯片，3路串口数据模块、I/O接口模块、SPI/FLASH模块、I2C/EPROM模块分别与MCU芯片和双口RAM连接，双口RAM又与ARM芯片和所述上位机检测计算机连接。

4.如权利要求3所述的一种计量器具软件维护性指标度量装置，其特征在于：

所述3路串口数据模块，用于与MCU芯片通信；

所述I/O接口模块，为外围交联设备的数据端口、控制端口设置I/O地址，并决定其间输入输出关系；

所述SPI/FLASH模块，用于传输数据，接收到双口RAM传送的ARM编程指令后，FLASH控制器要对接收的指令进行解码译码，转化成控制信号，控制SPI/FLASH模块的数据接收模块和数据发送模块中相对应的指令子模块与MCU芯片进行收发数据；

所述I2C/EPROM模块，用于传输数据，EEPROM控制器通过I2C接口与MCU芯片收发数据。

5.如权利要求3所述的一种计量器具软件维护性指标度量装置，其特征在于所述双口RAM包括采集数据双口RAM和测试数据双口RAM，采集数据双口RAM，用于存储被测软件运行过程中通信数据及检测过程监控模块指令，按ARM指令传输到ARM芯片，测试数据双口RAM，用于存储软件运行过程中ARM指令及提供给检测过程监控模块数据，再按ARM指令传输到MCU芯片。

6.如权利要求3所述的一种计量器具软件维护性指标度量装置，其特征在于所述双工RAM包括数据缓存区和数据信息存储区，数据信息缓存区用于保存数据信息，包括收发数据的起始、终止地址，以及数据的传输方向，数据信息存储区用于存储接收到的地址和控制信息。