[发明专利]设备的性能检测的相关方法以及相关装置、设备

说明书

本申请公开了设备的性能检测的相关方法以及相关装置、设备，其中，设备的性能检测方法包括：利用当前设备执行目标操作，得到当前设备的第一当前执行时长和/或第二当前执行时长；将第一当前执行时长和/或第二当前执行时长与目标操作的第一参考执行时长和/或第二参考执行时长进行数据对比，得到当前设备的性能检测结果。上述方案，能够提高检测设备性能的准确性和可靠性。

技术领域

本申请涉及性能检测的技术领域，特别是涉及设备的性能检测的相关方法以及相关装置、设备。

背景技术

随着移动互联网技术的迅速发展，智能设备日益成熟与普及，给人们的工作生活带来了极大的便利。各种智能设备(例如移动设备或固定设备)的性能也越来越受到关注。智能设备性能表征着智能设备的处理信息的能力。

设备的性能容易受很多因素影响。例如：1、当电量不足时，设备的系统会对CPU进行自动降频，从而节省能耗；2、当设备温度较高时，设备上所装载的所有芯片几乎都会降频。从而使得设备的性能产生相应变化。

而目前的设备的性能检测方法中，容易忽略当前设备的电量以及设备所处环境温度等情况就对其进行检测，则得到的性能参数为被电量和温度情况影响后的性能参数，而非设备本身的性能参数，因此检测设备性能时容易出现不够准确的情况。

发明内容

本申请提供了设备的性能检测的相关方法以及相关装置、设备，以解决现有技术中存在的检测设备性能不够准确的问题。

本申请提供了一种设备的性能检测方法，包括：利用当前设备执行目标操作，得到当前设备的第一当前执行时长和/或第二当前执行时长；将第一当前执行时长和/或第二当前执行时长与目标操作的第一参考执行时长和/或第二参考执行时长进行数据对比，得到当前设备的性能检测结果。

其中，将第一当前执行时长和/或第二当前执行时长与目标操作的第一参考执行时长和/或第二参考执行时长进行数据对比，得到当前设备的性能检测结果的步骤包括：计算得到第一当前执行时长与第二当前执行时长之间的第一比值，以及第一参考执行时长与第二参考执行时长之间的第二比值；将第一比值与第二比值进行对比，得到性能检测结果。

其中，第一参考执行时长和/或第二参考执行时长为当前最优参考值。

其中，设备的性能检测方法还包括：如果第一比值对应的设备性能优于第二比值对应的设备性能，将第一当前执行时长和/或第二当前执行时长替换为当前最优参考值。

其中，将第一比值与第二比值进行对比，得到性能检测结果的步骤包括：如果第一比值小于第二比值，确定性能检测结果为第一比值对应的设备性能优于第二比值对应的设备性能；如果第一比值大于第二比值，确定性能检测结果为第一比值对应的设备性能劣于第二比值对应的设备性能。

其中，第一参考执行时长和/或第二参考执行时长为之前执行目标操作获取到的第一执行时长和/或第二执行时长。

其中，将第一当前执行时长和/或第二当前执行时长与目标操作的第一参考执行时长和/或第二参考执行时长进行数据对比，得到当前设备的性能检测结果的步骤还包括：利用当前设备执行预设操作，得到当前设备执行预设操作的第一预设执行时长和/或第二预设执行时长；计算得到第一当前执行时长与第一预设执行时长的第三比值，和/或第二当前执行时长与第二预设执行时长的第四比值；以及计算得到第一参考执行时长与预设操作的第三预设执行时长之间的第五比值，和/或第二参考执行时长与预设操作的第四预设执行时长之间的第六比值；利用第三比值与第五比值，和/或第四比值与第六比值确定当前设备的性能检测结果。

其中，利用第三比值与第五比值，和/或第四比值与第六比值确定当前设备的性能检测结果的步骤包括：如果第三比值小于第五比值，确定性能检测结果为第三比值对应的设备性能优于第五比值对应的设备性能；或第四比值小于第六比值，确定性能检测结果为第四比值对应的设备性能优于第六比值对应的设备性能。