[发明专利]一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法

权利要求书

1.一种继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：在测试点布置多个不同长度的电阻应变片Y_i，每个电阻应变片通过导线（2）外接测试仪器（3）；在测试区L两端设两个固结区（1），将电阻应变片Y_i两端固结在测试对象（4）上，或者先将电阻应变片Y_i固结在测试载体（5）上，再将测试载体（5）固结在测试对象(4)上；在测试区L范围内，第一个电阻应变片Y₁的长度为L₁=L，其它电阻应变片Y_i的长度为L_i-1＜L_i≤L_i-1(1+δ)（i=2,...,i,...n)，i表示电阻应变片编号，n≥2为应变片数量，δ表示电阻应变片有效测试应变量。

2.根据权利要求1所述的继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：根据测试变形量最大值确定电阻应变片Y_i的数量n。

3.根据权利要求1所述的继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：每个电阻应变片Y_i有共同的固结区（1），固结区（1）之间的初始净间距为L。

4.根据权利要求1所述的继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：测试载体（5）的材料、形状、尺寸根据测试对象与环境确定。

5.如权利要求1-4任一项所述继承性大变形电阻应变片测试结构的测试方法，其步骤包括：

将电阻应变片Y_i组固结在测试对象（4）上，或通过测试载体（5）固结在测试对象（4）上；

电阻应变片Y_i通过导线（2）外接测试仪器（3）；

变形测试过程中，首先通过第一个电阻应变片Y₁测试变形量；当第一个电阻应变片Y₁失效时，第二个电阻应变片Y₂进入测试状态；当第二个电阻应变片Y₂失效时，第三个电阻应变片Y₃进入测试状态；……；以此类推，直到完成大变形测试；

变形测试结果为：应变片Y_i数据叠加Y_i起始点同一时间点的Y_i-1末端数据。