[发明专利]基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪

权利要求书

1.一种基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪，其特征在于该测量仪的构成包括：入射光经过楔形分束片(1)分成反射光和透射光，所述的反射光作为待测光，依次经过第四反射镜(11)、四分之一波片(12)、第五反射镜(13)、第六反射镜(14)、第七反射镜(15)、第八反射镜(16)后入射到第二反射聚焦元件(17)中；所述的透射光依次经第一线偏振器(2)、聚焦元件(3)、第一反射镜(4)、第一三阶非线性晶体(5)入射到第二三阶非线性晶体(6)，所述的第一三阶非线性晶体(5)和第二三阶非线性晶体(6)位于所述的聚焦元件(3)焦点附近，在所述的第一三非线性晶体(5)和第二三阶非线性晶体(6)中基于交叉偏振波效应会在所述的透射光的偏振方向的垂直方向产生信号光，该信号光依次经第二反射镜(7)、第二线偏振器(8)和第三反射镜(9)入射到第一反射聚焦元件(10)，所述的第一线偏振器(2)和第二线偏振器(8)的偏振方向严格垂直；经所述的第一反射聚焦元件(10)输出的信号光和经所述的第二反射聚焦元件(17)输出的待测光分别入射非线性晶体(18)，经过非线性过程获得互相关信号光输出；该互相关信号光依次经衰减片(19)、第一聚焦透镜(20)、第二聚焦透镜(21)、光谱滤波片(22)在数据采集装置(23)成像。

2.根据权利要求1所述的基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪，其特征在于第一三阶非线性晶体(5)和第二三阶非线性晶体(6)位于聚焦元件(3)焦点附近，所述聚焦元件(3)把入射光在一维方向聚焦，所述的第一三阶非线性晶体(5)和第二三阶非线性晶体(6)的光轴的取向使得交叉偏振波产生效率最大，且晶体前后表面呈楔形角结构。

3.根据权利要求1所述的基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪，其特征在于所述的第五反射镜(13)和第六反射镜(14)构成时间延迟线，通过调节时间延迟线可以改变对比度单发测量表征的时间窗口。

4.根据权利要求1所述的基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪，其特征在于所述的衰减片(19)为吸收型衰减片或镀膜的反射镜衰减片。

5.根据权利要求1至4任一项所述的基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪，其特征在于所述的第一聚焦透镜(20)和第二聚焦透镜(21)以一定的缩放倍率把所述互相关信号光成像到所述的数据采集装置(23)。