[发明专利]一种高质量SiC单晶制备装置及方法在审
| 申请号: | 202110249485.8 | 申请日: | 2021-03-08 |
| 公开(公告)号: | CN112779596A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司 |
| 主分类号: | C30B23/00 | 分类号: | C30B23/00;C30B29/36 |
| 代理公司: | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 | 代理人: | 曹徐婷 |
| 地址: | 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 质量 sic 制备 装置 方法 | ||
本发明涉及一种高质量SiC单晶制备装置及方法,属于晶体生长领域。解决了SiC单晶质量不佳,生长不够均匀,厚度达不到市场需求的问题。包括上盖、籽晶、下盖、坩埚主体、滤网、保温体、动力杆、石英管和加热线圈,所述坩埚主体内放置滤网,坩埚主体的上部设置下盖和上盖,下盖位于上盖下侧,下盖的下侧连接籽晶,上盖的上侧连接动力杆,坩埚主体外壁包覆有保温体,坩埚主体置于石英管内侧,石英管的外侧安装加热线圈。可以有效去除杂质的同时,防止二次引入新杂质,有效提高晶体质量;碳化硅原料由石墨滤网固定,在提纯以及长晶期间可以有效防止碳颗粒随气体上升;长晶期间可以控制籽晶转动,防止不同位置气体流速差异导致晶体生长出现位错缺陷。
技术领域
本发明涉及一种SiC单晶制备装置及方法,属于晶体生长领域。
背景技术
SiC作为C和Si稳定的化合物,其晶格结构由致密排列的两个亚晶格组成,SiC的这些性能使其成为高频、大功率、耐高温、抗辐照的半导体器件的优选材料,可用于地面核反应堆系统的监控、原油勘探、环境监测及航空、航天、雷达、通讯系统和大功率的电子转换器及汽车马达等领域的极端环境中。另外,采用SiC所制备的发光二极管的辐射波长可以覆盖从蓝光到紫光的波段,在光信息显示系统及光集成电路等领域中具有广阔的应用前景。
如今物理气相输送法(PVT)是宽禁带半导体材料的主流制备方法。但是,由于热场以及原料承载装置的问题导致晶体质量不佳,生长不够均匀,厚度达不到市场需求,并且碳化硅原料中存在C、N、B等杂质,会影响到碳化硅单晶质量。
基于上述问题,亟需提出一种高质量SiC单晶制备装置及方法,以解决上述技术问题。
发明内容
本发明提供一种高质量SiC单晶制备装置及方法,解决了SiC单晶质量不佳,生长不够均匀,厚度达不到市场需求的问题。在下文中给出了关于本发明的简要概述,以便提供关于本发明的某些方面的基本理解。应当理解,这个概述并不是关于本发明的穷举性概述。它并不是意图确定本发明的关键或重要部分,也不是意图限定本发明的范围。
本发明的技术方案:
一种高质量SiC单晶制备装置,其特征在于:包括上盖、籽晶、下盖、坩埚主体、滤网、保温体、动力杆、石英管和加热线圈,所述坩埚主体内放置滤网,坩埚主体的上部设置下盖和上盖,下盖位于上盖下侧,下盖的下侧连接籽晶,上盖的上侧连接动力杆,坩埚主体外壁包覆有保温体,坩埚主体置于石英管内侧,石英管的外侧安装加热线圈;
所述下盖的边缘圆周阵列加工四个下滑块,下盖上加工有圆周阵列布置的四个下通孔;所述上盖的边缘圆周阵列加工四个上滑块,上盖上圆周阵列加工有四个上通孔,相邻的上通孔之间均连接挡块,挡块设置在与下通孔的对应位置;
所述坩埚主体为圆桶形,坩埚主体的上部开口侧加工有四个竖直滑道、第一环形滑道和第二环形滑道,四个竖直滑道圆周阵列布置,竖直滑道穿过第一环形滑道连通第二环形滑道;下滑块通过第二环形滑道与坩埚主体连接,上滑块通过第一环形滑道与坩埚主体连接。
优选的:所述坩埚主体通过内支架固定设置在石英管内;
还包括转动机构、升降机构和连接架,转动机构和升降机构通过连接架连接;
所述转动机构包括上部架、电机、主动齿轮、连接杆、下部架、从动齿轮和驱动轴,上部架与下部架通过三个圆周阵列布置的连接杆连接,上部架与电机固定连接,电机的输出端连接主动齿轮,下部架通过轴承连接驱动轴,驱动轴与从动齿轮连接,从动齿轮与主动齿轮啮合,驱动轴与动力杆连接;
所述升降机构包括液压杆、外部套筒、内部伸缩臂、减磨轮座和减磨轮,内部伸缩臂的下部对称布置有两个减磨轮座,减磨轮座上安装有减磨轮,内部伸缩臂位于外部套筒内侧,减磨轮与外部套筒接触;液压杆的两端分别与外部套筒和内部伸缩臂连接;内部伸缩臂通过连接架与上部架连接。
优选的:所述外部套筒与内部伸缩臂均为方形。
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