[发明专利]一种电路元器件工作寿命抽样检验方法

说明书

本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样，采用定时截尾一次计数抽样检验方法，即从总体中抽出规定的样本容量n,在规定的工作应力下，试验到规定时间t时截止试验，试验中出现的不合格样品数r，不应超过规定的合格判定数c。本发明设计的抽样检验方案，解决了目前压敏电阻器(MOV)和避雷器阀片(MOA)无寿命评定方法可循的难题。

技术领域

本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，特别是涉及一种Weibull寿命分布函数的电路元器件，在规定工作应力下，评定工作寿命的抽样检验的设计方法。

背景技术

市场对于有可靠性指标的压敏电阻器(MOV)，避雷器阀片(MOA)，以及MOV型SPD的需求，日趋迫切。例如安装在维修人员难以到达地点的产品，要求有10年或20年的可靠工作寿命，如何进行寿命评定，成为国际技术标准必须解决的紧迫课题。

此前，对于MOV在电压/温度应力(U-T应力)下的寿命鉴定，已经提出过一个失效率等级试验抽样方案。该方案是依据MIL-STD-690D(GJB-2649)制定的，它只适用于失效率λ(t)为常数的寿命分布，而不适用于寿命分布类型是Weibull分布的情况。

近几年的实验研究表明，MOV和MOA在电压-温度-湿度应力下，和在脉冲电流应力下的寿命分布类型，都是Weibull分布，而且，它们的Weibull分布的形状参数β，对于一定型号规格的MOV和MOA，是比较稳定的，但它们的Weibull分布的尺度参数η，则与产品瓷料配方，生产工艺和产品设计，有较强的相关性。这些新的研究成果，为本发明奠定了技术基础。

发明内容

为了克服上述不足，本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，能用于MOV，MOA和MOV型SPD的产品寿命评定。

本发明公开的电路元器件工作寿命的抽样检验方法，包括下面五个步骤：

(1)确定被评定电路元器件要求的t_R的额定值t_RR，t_R是产品在规定工作应力下可靠度为R的平均寿命，当工作应力是连续电压-温度-湿度时，t_R以“小时”为单位，当工作应力是脉冲电流时，t_R以“脉冲次数”为单位。

(2)确定被评定电路元器件的Weibull寿命分布形状参数β；

(3)选定抽样试验样品数n和允许不合格品数c；

(4)依据上面步骤(1)-(3)确定的[t_RR,β，n,c]，从抽样检验表中查得试验小时数t或试验脉冲次数t对于t_RR的比值，计算出试验试验小时数t或试验脉冲次数t；

(5)在规定的试验应力下对n只样品进行寿命试验，试验到t时停止，若失效样品数不大于c值，则判定被评定产品合格，反之判定不合格。

所述抽样检验表是通过抽样特性方程计算的，抽样特性方程，即OC曲线的自变量x，是产品的受控质量指标，用在规定工作应力下，产品可靠度R的平均寿命t_R表示，抽样特性方程的函数值y，是产品的使用方接受概率L；t_R为规定的额定值t_RR时的使用方接受概率，即使用方风险L_ris。

实施上述五个工作步骤的核心技术，是建立抽样特性方程(OC曲线)，然后根据抽样特性方程，设计计算抽样表。推导抽样特性方程的过程如下。

对于形状参数为β，特征寿命为η的Weibull分布，一个产品在[0，t]时间内的失效概率为：

式中t指试验时间，或试验次数；