[发明专利]一种晶振测试装置在审

专利信息
申请号: 202110244196.9 申请日: 2021-03-05
公开(公告)号: CN113125811A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 李瑶;李秀琴 申请(专利权)人: 深圳市福浪电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/26
代理公司: 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 代理人: 卢杏艳
地址: 518000 广东省深圳市龙华区大浪街道龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 装置
【说明书】:

发明公开了晶振领域的一种晶振测试装置,包括测试盒,测试盒的左右两侧内壁上分别安装有一个定位夹紧装置,测试盒内安装有晶振本体,晶振本体上安装有两个导电杆,晶振本体位于两个定位夹紧装置之间,定位夹紧装置包括:夹紧块、压缩弹簧、永磁铁和电磁铁,夹紧块通过多个压缩弹簧与测试盒的内壁弹性连接,夹紧块的侧面安装有永磁铁,测试盒的内壁上安装有与永磁铁相配合的电磁铁,测试盒的顶部左右两端对称安装有一个翻转机构,两个翻转机构分别与测试盒转动连接,测试盒的左右两侧内壁上均安装有一个限位器,每个翻转机构上均安装有一个导电装置。本发明测试方便,安全性高。

技术领域

本发明涉及晶振领域,具体是一种晶振测试装置。

背景技术

晶振是电子电路中最常用的电子元件之一。晶振具有压电效应,即在晶片两极外加电压后晶体会产生变形,反过来如外力使晶片变形,则两极上金属片又会产生电压。如果给晶片加上适当的交变电压,晶片就会产生谐振(谐振频率与石英斜面倾角等有关系,且频率一定)。晶振利用一种能把电能和机械能相互转化的晶体,在共振的状态下工作可以提供稳定、精确的单频振荡。在通常工作条件下,普通的晶振频率绝对精度可达百万分之五十。

在生产晶振时需要将其通交流电,测试其振荡特性是否合格,在测试多个晶振时需要频繁的拆卸导线,导致工作效率降低,且在接线和拆线时容易发生漏电,有安全风险,因此,针对以上现状,迫切需要开发一种测试方便,安全性高的晶振测试装置,以克服当前实际应用中的不足,满足当前的需求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶振测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

一种晶振测试装置,包括测试盒,所述测试盒的左右两侧内壁上分别安装有一个定位夹紧装置,所述测试盒内安装有晶振本体,所述晶振本体上安装有两个导电杆,所述晶振本体位于两个定位夹紧装置之间,所述定位夹紧装置包括:夹紧块、压缩弹簧、永磁铁和电磁铁,所述夹紧块通过多个压缩弹簧与测试盒的内壁弹性连接,所述夹紧块的侧面安装有永磁铁,所述测试盒的内壁上安装有与永磁铁相配合的电磁铁,所述测试盒的顶部左右两端对称安装有一个翻转机构,两个所述翻转机构分别与测试盒转动连接,所述测试盒的左右两侧内壁上均安装有一个限位器,每个所述翻转机构上均安装有一个导电装置。

作为本发明进一步的方案:两个所述定位夹紧装置关于测试盒的中轴线对称设置。

作为本发明进一步的方案:所述电磁铁和永磁铁的同性磁极相对设置。

作为本发明进一步的方案:所述翻转机构包括:轴套、转动轴和翻转板,所述轴套的数量为两个,两个所述轴套之间转动连接有转动轴,所述转动轴与翻转板相连。

作为本发明进一步的方案:所述限位器包括:L型支架和限位球,所述L型支架与测试盒的内壁相连,所述L型支架的顶部安装有限位球。

作为本发明进一步的方案:所述导电装置包括:螺纹套、螺纹杆、滚珠、轴承、转动把手、卡环、铜杆、绝缘外套和接触片,所述螺纹套通过轴承与翻转板转动连接,所述螺纹套内安装有延伸至其外部的螺纹杆,所述螺纹杆通过多个滚珠与螺纹套相连,所述螺纹套的外部安装有多个转动把手,所述螺纹杆的底部与卡环相连,所述螺纹套的右侧安装有铜杆,所述铜杆的外部安装有绝缘外套,所述铜杆贯穿翻转板,所述卡环与绝缘外套相连,所述铜杆的底部安装有接触片,所述铜杆的顶部安装有电线。

作为本发明进一步的方案:所述接触片呈圆弧形。

作为本发明进一步的方案:所述测试盒采用绝缘材料制成。

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