[发明专利]一种晶体振荡器用性能检测仪

权利要求书

1.一种晶体振荡器用性能检测仪，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的底部均匀固定连接有多个支撑柱(2)，所述工作台(1)顶部的一侧设有检测台(3)，所述检测台(3)顶部的一端固定安装有示波器(9)，所述检测台(3)远离示波器(9)一侧的顶部固定安装有电压表(10)，所述检测台(3)远离示波器(9)一端的顶部固定连接有第一固定板(6)，所述检测台(3)位于示波器(9)和第一固定板(6)之间的顶部固定连接有第二固定板(8)，所述第一固定板(6)和第二固定板(8)之间的侧壁设有活动板(7)，所述检测台(3)相互远离两端的侧壁均匀开设有多个第一贯穿孔(12)，多个所述第一贯穿孔(12)的内壁分别贯穿活动连接有第一检测头(11)和第二检测头(13)，多个所述第一检测头(11)贯穿过第一贯穿孔(12)的一端均与示波器(9)的输入端电性连接，多个所述第二检测头(13)贯穿过第一贯穿孔(12)的一端均与电压表(10)的输入端电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述检测台(3)相互远离两侧的底部均固定连接有连接块(4)，两个所述连接块(4)的顶部均匀贯穿连接有多个连接螺栓(5)，多个所述连接螺栓(5)贯穿过连接块(4)的一端均与位置相匹配工作台(1)的顶部啮合连接。

3.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述第一固定板(6)靠近活动板(7)一侧的侧壁固定连接有第一缓冲板(27)，所述活动板(7)靠近第一固定板(6)的一端侧壁固定连接有第二缓冲板(28)。

4.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述第二固定板(8)远离活动板(7)一侧的侧壁均匀贯穿开设有多个第二贯穿孔(29)，多个所述第二贯穿孔(29)的内壁均活动连接有固定杆(30)，多个所述固定杆(30)贯穿过第二贯穿孔(29)的一端均与位置相匹配的活动板(7)固定连接，多个所述固定杆(30)远离第二固定板(8)的一端侧壁共同固定连接有连接杆(31)，多个所述固定杆(30)位于活动板(7)和第二固定板(8)之间的外壁均套设连接有弹簧。

5.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述工作台(1)相互远离两侧的侧壁均匀固定连接有多个凸块(22)，多个所述凸块(22)的顶部均贯穿开设有贯穿槽(25)。

6.根据权利要求1或5所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述工作台(1)相互远离两侧的侧壁均设有储物盒(23)，两个所述储物盒(23)分别与凸块(22)位置相匹配的侧壁均固定连接有卡块(26)，多个所述卡块(26)分别与位置相匹配的贯穿槽(25)卡合连接，两个所述储物盒(23)的顶部均开设有储物槽(24)。

7.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述工作台(1)远离检测台(3)一侧的顶部固定连接有验证台(14)，所述验证台(14)一端的顶部贯穿开设有顶槽(18)，所述顶槽(18)的内壁活动连接有升降板(19)，所述升降板(19)的一端侧壁固定连接有显示屏(20)，所述升降板(19)相互远离两侧的侧壁均活动连接有限位块(21)。

8.根据权利要求7所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述验证台(14)远离升降板(19)一侧的顶部固定连接有第一控制按钮(15)，所述验证台(14)位于第一控制按钮(15)和升降板(19)之间的顶部均匀固定连接有多个第二控制按钮(17)，所述验证台(14)顶部远离第二控制按钮(17)的一侧开设有插入孔(16)，所述验证台(14)的内壁固定连接有显示屏电路。