[发明专利]容量预测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.容量预测方法，其特征在于，包括：

对待测电芯进行预处理；

获取所述预处理后的所述待测电芯的第一开路电压；

根据所述第一开路电压计算出所述待测电芯的第一放电容量；

其中，所述对待测电芯进行预处理包括：对所述待测电芯进行满充操作，对所述满充操作后的所述待测电芯进行第一放电操作，以使所述待测电芯的荷电状态在预设范围内。

2.根据权利要求1所述的容量预测方法，其特征在于，在所述对待测电芯进行预处理之前，所述方法还包括：

对至少两个测试电芯进行预处理；

获取每一个所述测试电芯的第二开路电压；

对每一个所述测试电芯进行分容处理；

获取每一个所述测试电芯的第二放电容量；

根据所述第二开路电压和所述第二放电容量得到至少两个特征点；

对至少两个所述特征点进行拟合处理，以得到容量系数和容量常数；

所述根据所述第一开路电压计算出所述待测电芯的第一放电容量，包括：

根据所述第一开路电压、所述容量系数和所述容量常数计算出所述第一放电容量。

3.根据权利要求2所述的容量预测方法，其特征在于，所述对至少两个测试电芯进行预处理，包括：

对所述测试电芯进行满充操作；

对所述满充操作后的所述测试电芯进行第二放电操作，以使所述测试电芯的荷电状态在所述预设范围内。

4.根据权利要求2所述的容量预测方法，其特征在于，所述对每一个所述测试电芯进行分容处理，包括：

对每一个所述测试电芯进行第三放电操作，以使所述测试电芯的电压满足第一阈值条件；

对每一个所述测试电芯进行充电操作，以使所述测试电芯的电流满足第二阈值条件；

对每一个所述测试电芯进行第四放电操作，以使所述测试电芯的电压满足所述第一阈值条件。

5.根据权利要求3所述的容量预测方法，其特征在于，所述对所述测试电芯进行满充操作，包括：

对所述测试电芯进行恒流充电，以使所述测试电芯的电压满足第三阈值条件；

对所述测试电芯进行恒压充电，以使所述测试电芯的电流满足第四阈值条件。

6.根据权利要求2至5任一项所述的容量预测方法，其特征在于，所述对所述待测电芯进行满充操作，包括：

对所述待测电芯进行恒流充电，以使所述待测电芯的电压满足第五阈值条件；

对所述待测电芯进行恒压充电，以使所述待测电芯的电流满足第六阈值条件。

7.容量预测装置，其特征在于，包括：

处理模块，用于对待测电芯进行预处理；

检测模块，与所述处理模块连接，用于获取所述待测电芯的第一开路电压；

计算模块，与所述检测模块连接，用于根据所述第一开路电压计算出所述待测电芯的第一放电容量；

其中，所述处理模块对所述待测电芯进行预处理包括：对所述待测电芯进行满充操作，对所述满充操作后的所述待测电芯进行第一放电操作，以使所述待测电芯的荷电状态在预设范围内。

8.根据权利要求7所述的容量预测装置，其特征在于，所述处理模块还用于对至少两个测试电芯进行预处理和分容处理；

所述检测模块还用于获取所述预处理后每一个所述测试电芯的第二开路电压，和获取所述分容处理后每一个所述测试电芯的第二放电容量；

所述计算模块还用于根据所述第二开路电压和所述第二放电容量得到至少两个特征点，对至少两个所述特征点进行拟合处理，以得到容量系数和容量常数，并根据所述第一开路电压、所述容量系数和所述容量常数计算出所述第一放电容量；

其中，所述对至少两个测试电芯进行预处理包括：对所述测试电芯进行满充操作，对所述满充操作后的所述测试电芯进行第二放电操作，以使所述测试电芯的荷电状态在所述预设范围内。