[发明专利]片上自测试系统及方法

说明书

本申请提供片上自测试系统及方法。所述片上自测试系统包括：测试控制器，信号发生器，时钟发生器以及数字信号处理器；所述测试控制器控制外部输入的参考时钟信号同时输入至信号发生器和时钟发生器；所述时钟发生器为被测模数转换器模块提供所需的时钟信号；所述信号发生器用于产生被测模数转换器模块所需的信号，并输出至被测模数转换器模块，以使得被测模数转换器模块对从信号发生器接收的信号进行模数转换后输出数字信号；所述数字信号处理器用于对被测模数转换器模块输出的数字信号进行测试，并输出测试结果信号。本申请通过设置于模数转换器内部的片上自测试系统对被测模数转换器模块进行测试，无需昂贵专用的自动化测试设备，有效节省测试成本，提高测试精度。

技术领域

本申请涉及电子电路领域，特别是涉及模数转换器技术领域。

背景技术

模数转换器（ADC，Analog-to-Digital Converter）是用于将模拟信号转换为数字信号的电子器件，是应用在众多领域的芯片的关键部分。随着CMOS（Complementary MetalOxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体）技术的发展，模数转换器（ADC）已越来越先进，其转换速率已超过每秒10亿次（GS/s）。模数转换器（ADC）制造出来后，需要对其进行测试，判断是模数转换器（ADC）是否存在质量问题。测试模数转换器（ADC）的成本是其整个生产成本的重要组成部分。通常，模数转换器（ADC）会在昂贵的混合信号自动测试机台上进行测试。

这种传统的基于混合信号自动测试机台对模数转换器（ADC）进行测试的方式存在如下缺点：

第一， 测试成本昂贵。由于模数转换器（ADC）自身性能不断提升，与之对应的混合信号自动化测试设备（ATE）的性能指标也要不断提升，每隔一段时间就需要更新换代，给测试厂带来固定投资的压力，这边成本也转嫁到芯片的测试成本中，导致整个芯片成本的提升。

第二， 测试精度受限。由于模数转换器（ADC）自身性能不断提升，与之配合的测试电路板上的走线阻抗匹配设计，通孔信号完整性设计，低噪声电源完整性设计等都是很大的挑战，越来越难以满足，而且对应的测试电路板成本也非常高昂。

因此如何降低模数转换器（ADC）的测试成本，提高模数转换器（ADC）的测试精度已成为本领域技术人员亟待解决的技术难题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本申请提供了片上自测试系统及方法，用于解决现有技术中模数转换器测试成本高，测试精度低的技术问题。