[发明专利]用于非接触式感测物质的基准开关架构

权利要求书

1.一种用于进行测量的系统，包括：

光源，被配置成向样本输出光；

第一输出区域，位于所述系统的界面处并且被配置成接收来自所述样本内的第一位置的第一光；

第二输出区域，位于所述系统的界面处并且被配置成接收来自所述样本内的第二位置的第二光；

检测器；以及

光学器件单元，包括：

第一光学器件，被配置成接收来自所述第一输出区域的第一光并且将来自所述第一输出区域的第一光引导到所述检测器；以及

第二光学器件，被配置成接收来自所述第二输出区域的第二光并且将来自所述第二输出区域的第二光引导到所述检测器。

2.根据权利要求1所述的系统，还包括基准，其中：

所述光被输出到所述样本和所述基准；以及

所述光学器件单元还包括第三光学器件，所述第三光学器件被配置成：

接收来自所述基准的所述第二光；以及

将所述第二光引导到所述检测器。

3.根据权利要求2所述的系统，其中：

所述检测器包括多个检测器像素；以及

所述第三光学器件被配置成：

将来自所述基准的光进行分离；以及

将所分离的光引导到所述多个检测器像素中的至少两个检测器像素。

4.根据权利要求2所述的系统，其中：

所述第三光学器件是与所述第一光学器件和所述第二光学器件不同类型的光学器件；以及

所述第三光学器件包括负透镜或楔形棱镜中的一个。

5.根据权利要求1所述的系统，还包括位于所述系统的界面处的一个或多个输入区域；其中：

所述光学器件单元包括第四光学器件，所述第四光学器件被配置成：

接收来自所述光源的光；以及

将来自所述光源的光引导到所述一个或多个输入区域。

6.根据权利要求1所述的系统，其中：

所述检测器包括多个检测器像素，所述多个检测器像素包括第一检测器像素和第二检测器像素；

所述第一光学器件将来自所述第一输出区域的光引导到所述第一检测器像素；以及

所述第二光学器件将来自所述第二输出区域的光引导到所述第二检测器像素。

7.根据权利要求1所述的系统，还包括图案化光圈，所述图案化光圈包括一个或多个不透明区域；其中：

所述一个或多个不透明区域中的至少一个位于所述第一光学器件和所述第二光学器件之间。

8.根据权利要求1所述的系统，还包括第二光学器件单元，所述第二光学器件单元包括：

第五光学器件，接收来自所述第一输出区域的光并将来自所述第一输出区域的光引导到所述检测器；以及

第六光学器件，接收来自所述第二输出区域的光并将来自所述第二输出区域的光引导到所述检测器。

9.根据权利要求1所述的系统，还包括光圈，所述光圈包括：

第一开口，所述第一开口被配置成接收来自所述第一输出区域的光；以及

第二开口，所述第二开口被配置成接收来自所述第二输出区域的光；其中：

所述第一开口选择性地将来自所述第一输出区域的光引导到所述检测器；以及

所述第二开口选择性地将来自所述第二输出区域的光引导到所述检测器。

10.根据权利要求1所述的系统，还包括第二检测器和分束器，其中：

所述分束器将来自所述第一输出区域的光进行分离；以及

由所述分束器分离的光的至少一部分被引导到所述第二检测器。