[发明专利]一种同频邻频干扰测试用自动化评估系统及方法在审
申请号: | 202110234268.1 | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN112994811A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 邵玲;华亚军;朱鸿飞;孙建;全成根 | 申请(专利权)人: | 太仓市同维电子有限公司 |
主分类号: | H04B17/345 | 分类号: | H04B17/345 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 刘黎明 |
地址: | 215400 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 频邻频 干扰 测试 自动化 评估 系统 方法 | ||
1.一种同频邻频干扰测试用自动化评估系统,其特征在于,包括PCⅠ、服务器、屏蔽房/屏蔽箱,以及设置于所述屏蔽房/屏蔽箱内的PCⅡ、转台、待测设备、可调衰减器、陪测APⅠ、陪测APⅡ和HUB/交换机;
所述PCⅠ,安装有主控端程序,通过主控端程序控制待测设备进行吞吐量测试、控制转台进行角度变换、连接陪测APⅠ和陪测APⅡ进行包括信道修改在内的无线配置,连接PCⅡ远端进行无线连接的控制;所述PCⅠ还用于将主控客户端的测试结果发送给服务器;
所述服务器,用于接收所述主控客户端的测试结果,并进行可视化的结果对比和展示;
所述PCⅡ,与待测设备通过无线线路连接,所述PCⅡ上安装有远程端程序,通过远程端程序接收主控客户端下发的命令并执行,用于控制与待测设备所连接的无线线路的信号;
所述转台,用于承托待测设备,并在测试过程中,通过转动的方式带动待测设备进行角度调整;
所述待测设备,是需要进行同频干扰和邻频干扰的设备;
所述可调衰减器,与PCⅠ连接,通过PCⅠ上安装的主控程序控制无线线路的衰减;
所述陪测APⅠ和陪测APⅡ,用于做同频/邻频的干扰信号,用于通过PCⅠ控制包括修改信道在内的无线配置;
所述HUB/交换机,用于将PCⅠ和PCⅡ与转台、待测设备、可调衰减器、陪测APⅠ、陪测APⅡ进行连接;所述PCⅠ和PCⅡ与所述所述HUB/交换机通过有线连接,所述转台、待测设备、可调衰减器、陪测APⅠ、陪测APⅡ与所述HUB/交换机通过无线连接;
所述屏蔽房/屏蔽箱,用于屏蔽外界的信号干扰。
2.根据权利要求1所述的一种同频邻频干扰测试用自动化评估系统,其特征在于,所述陪测APⅠ和陪测APⅡ均采用双频AP。
3.根据权利要求1所述的一种同频邻频干扰测试用自动化评估系统,其特征在于,所述服务器上设置有数据库,所述数据库用于存储服务器接收的主控客户端的测试项以及各项测试结果的数据。
4.一种同频邻频干扰测试用自动化评估的方法,其特征在于,包括:
步骤1:启动所述PCⅠ上的主控端程序、PCⅡ上的远程端程序以及服务器;
步骤2:设置主控端程序的参数配置;
步骤3:保存参数配置,并判断参数的合法性,合法的则保存到数据库,不合法的弹框提示,让用户重新设置;
步骤4:用户点击开始执行测试项;
步骤5:调用数据库中的各项所述参数;
步骤6:根据数据库中读取的数据,主控程序调用转台的角度参数、可调衰减器的衰减值参数,并通过telnet的方式命令修改陪测APⅠ和陪测APⅡ各项参数,并根据待测设备的信道分别设置同频/邻频的信道值;
步骤7:根据数据库中读取的数据,连接远程端程序执行待测设备的无线连接;
步骤8:测试项执行完成之后,通过http的方式把测试项以及各项测试结果的数据传输到服务器,服务器在收到客户端上传的数据后,解封上传的数据并且存储到后台数据库中;
步骤9:测试人员通过web的方式,获取数据库中的数据,并以图形化的方式展现各项测试的结果。
5.根据权利要求4所述的一种同频邻频干扰测试用自动化评估的方法,其特征在于,步骤2中所述参数包括待测设备的测试模式、待测设备的测试角度范围、待测设备的测试衰减值范围、待测设备的无线名称和密码、陪测APⅠ和陪测APⅡ的的管理地址、陪测APⅠ和陪测APⅡ的telnet的用户名和密码、转台的管理地址、可调衰减器的管理地址等。
6.根据权利要求4所述的一种同频邻频干扰测试用自动化评估的方法,其特征在于,步骤6中所述陪测APⅠ和陪测APⅡ各项参数包括陪测APⅠ和陪测APⅡ的2.4G和5G的信道。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太仓市同维电子有限公司,未经太仓市同维电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110234268.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:压力罐全位置出液结构
- 下一篇:柔性电路板缺陷圆检测方法、装置、介质和设备