[发明专利]一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置

说明书

本发明提供一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，包括：光源、双包层待测光纤和由多个相同光纤段组成的光输入系统；将光输入系统的首端光纤段作为输入端光纤段，由光输入系统的其它光纤段构成中间光纤段组；光源的尾纤与输入端光纤段的小径端连接，输入端光纤段的大径端与中间光纤段组中首端光纤段的大径端连接，光输入系统中尾端光纤段的小径端与双包层待测光纤连接；中间光纤段组中包含多个按照熔融拉锥方式依次级联的光纤段；熔融拉锥方式是指任一光纤段的小径端与相邻光纤段的大径端连接；光纤段的小径端尺寸不小于双包层待测光纤的包层尺寸。本发明的装置可降低光纤损耗，减小测试误差，提高系统的稳定性。

技术领域

本发明涉及光纤测试、激光器件测试技术领域，尤其涉及一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置。

背景技术

光纤数值孔径(Numerical Aperture；NA)是描述光进出光纤时光纤端面接收光的能力，即光纤能接收光辐射角度范围的参数，同时它也是表征光纤和光源、光检测器及其他光纤的耦合效率的重要参数，对连接损耗、弯曲损耗等都有影响。

目前，现有光纤数值孔径测试系统分为折射近场测试系统和远场辐射测试系统。然而，折射近场测试系统的折射率测量设备易受光纤尺寸的影响，测试系统操作复杂；远场辐射测试系统对光纤数值孔径进行测试时，采用的是空间光耦合到光纤，系统损耗较大。

在光纤激光器的应用中，需要研究双包层光纤的包层数值孔径的大小对特种光纤性能产生的不同影响。由于现有测试系统损耗较大，系统易受外部环境影响，对光轴重合度要求极高，稳定性较差，对双包层光纤包层数值孔径的测试会存在较大误差。因此，为了准确地测量光纤包层数值孔径参数，建立一套适合于测量大尺寸大数值孔径的光纤包层数值孔径参数的测试系统是十分必要的。

为此，如何更好地实现对于双包层光纤的包层数值孔径进行测量，已成为业界关注的研究重点。

发明内容

本发明提供一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，用以更好地实现对于双包层光纤的包层数值孔径进行测量。

本发明提供一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，包括：

光源、双包层待测光纤和由多个相同光纤段组成的光输入系统；

将所述光输入系统的首端光纤段作为输入端光纤段，由所述光输入系统的其它光纤段构成中间光纤段组；

所述光源的尾纤与所述输入端光纤段的小径端连接，所述输入端光纤段的大径端与所述中间光纤段组中首端光纤段的大径端连接，所述光输入系统中尾端光纤段的小径端与所述双包层待测光纤连接；

其中，所述中间光纤段组中包含多个按照熔融拉锥方式依次级联的光纤段；所述熔融拉锥方式是指任一光纤段的小径端与相邻光纤段的大径端连接；

其中，所述光纤段的小径端尺寸不小于所述双包层待测光纤的包层尺寸。

根据本发明提供的一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，所述光源的尾纤与所述输入端光纤段的小径端通过模式匹配的方式连接。

根据本发明提供的一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，所述任一光纤段的小径端与相邻光纤段的大径端通过对芯熔接的方式连接。

根据本发明提供的一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，所述输入端光纤段的大径端与所述中间光纤段组中首端光纤段的大径端通过偏芯熔接的方式连接。

根据本发明提供的一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，所述光输入系统的光纤段数量具体为：

根据所述光输入系统中尾端光纤段的小径端数值孔径和所述双包层待测光纤的包层数值孔径的预估值，确定所述光输入系统的光纤段数量。

根据本发明提供的一种双包层光纤的包层数值孔径测量装置，所述装置还包括：测量系统；