[发明专利]一种背光基板的检测方法及其系统

说明书

本发明公开了一种背光基板的检测方法及其系统，包括：在平行光照射于背光基板时，获取背光基板表面的图像数据；基于所述图像数据提取阴影区域图像数据；基于所述阴影区域图像数据生成背光基板的检测报告。本发明通过使用平行光源照射于背光基板，使其出射的平行光在照射于背光基板的表面时，背光基板表面的大型和/或小型异物颗粒会形成颗粒阴影，神经网络单元能够准确的抓取阴影区域图像数据，并进一步提取异物颗粒的坐标信息，从而生成背光基板表面的检测报告，解决了传统的背光基板的检测方法存在的检测精度较低的问题。

技术领域

本发明涉及光电信息技术领域，具体涉及一种背光基板的检测方法及其系统。

背景技术

背光板作为用来确保液晶显示屏背后发出光亮的光源装置，对于液晶显示屏的发光质量起到了决定性的影响作用。然后在背光基板的生产过程中，即使使用等级较高的无尘室生产车间并严格遵守防尘流程，依然无法完全避免空气中的小颗粒异物附着于背光基板表面。

目前的背光基板表面异物的检测方法为采用散射光照射于背光基板后，通过用户肉眼或摄像装置拍摄图像后进行背光基板表面异物的检测。但是，散射光照射于背光基板表面时，无法使得小型颗粒异物形成阴影并被用户肉眼观察到或摄像装置抓取，造成检测精度较低。

综上所述，现有的背光基板的检测方法存在检测精度较低的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种背光基板的检测方法及其系统，通过使用平行光源照射于背光基板并改进检测图像的处理方法，解决了传统的背光基板的检测方法存在的检测精度较低的问题。

为解决以上问题，本发明的技术方案为采用一种背光基板的检测方法，包括：在平行光照射于背光基板时，获取背光基板表面的图像数据；基于所述图像数据提取阴影区域图像数据；基于所述阴影区域图像数据生成背光基板的检测报告。可选地，基于所述图像数据提取阴影区域图像数据，包括：构建用于提取阴影区域的网络模型；获取由多张表面附着异物颗粒的背光基板照片构成的数据集并对每张所述背光基板照片的阴影区域进行标注，生成由多张包含阴影区域的照片构成的训练样本集和测试集；基于所述训练样本集和测试集，对所述网络模型进行训练并验证，生成用于提取阴影区域的检测模型；将所述图像数据输入神经网络单元，基于所述检测模型获取阴影区域提取框并提取阴影区域图像数据。

可选地，基于所述阴影区域图像数据生成背光基板的检测报告，包括：基于所述阴影区域图像数据提取其对应的异物颗粒的直径值；基于所述异物颗粒的直径值和所述阴影区域图像数据生成该异物颗粒的检测数据；重复上述步骤直至遍历完所述图像数据包含的全部阴影区域，生成由至少一个异物颗粒的所述检测数据构成的检测报告。

可选地，基于所述阴影区域图像数据提取其对应的异物颗粒的直径值，包括：通过所述阴影区域提取框(x，y，w，h，i)表征所述阴影区域图像数据，其中，(x，y)为所述提取框左上角坐标，w为所述提取框宽度值，h为所述提取框高度值，i为所述提取框置信度。提取所述阴影区域提取框的宽度值作为异物颗粒的所述直径值。

可选地，基于所述异物颗粒的直径值和所述阴影区域图像数据生成该异物颗粒的检测数据，包括：通过所述阴影区域提取框(x，y，w，h，i)表征所述阴影区域图像数据；以(x，y)为右上角坐标，构建长度为w的正方型颗粒提取框；提取所述颗粒提取框的中心点作为颗粒中心坐标；基于所述颗粒中心坐标和所述直径值生成所述检测数据。

相应地，本发明提供，一种背光基板的检测系统，其特征在于，包括：图像采集单元，用于获取背光基板表面的图像数据；神经网络单元，基于所述图像数据提取阴影区域图像数据；数据处理单元，基于所述阴影区域图像数据生成背光基板的检测报告。