[发明专利]光掩模坯在审
申请号: | 202110229575.0 | 申请日: | 2015-09-11 |
公开(公告)号: | CN112946992A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 深谷创一;稻月判臣 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/20 | 分类号: | G03F1/20;G03F1/50;H01L21/027;H01L21/033 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 何杨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光掩模坯 | ||
1.一种适于制备光掩模的光掩模坯的制造方法,所述光掩膜用于20nm以下结点的光刻法,
该光掩模坯包括石英基板和在该石英基板上形成的铬系材料膜,该铬系材料膜为遮光膜并具有对应于50nm以下的翘曲量的拉伸应力或压缩应力,其中该制造方法包括如下步骤:
通过使用铬靶和惰性气体与反应气体作为溅射气体在所述反应气体与所述惰性气体的流量比为1~2的条件下进行溅射,从而在具有152mm见方尺寸和6.35mm厚度的石英基板上形成具有至少0.050/nm的在波长193nm下的每单位膜厚度的光学密度的铬系材料膜。
2.根据权利要求1的制造方法,其中该翘曲量为30nm以下。
3.根据权利要求1的制造方法,其中每单位膜厚度的光学密度为至少0.054/nm。
4.根据权利要求1的制造方法,其中该铬系材料膜具有4nm-50nm的范围内的厚度。
5.根据权利要求1的制造方法,其中该铬系材料膜含有选自氮、氧、碳和氢中的至少一种。
6.根据权利要求1的制造方法,其中该铬系材料膜为CrN膜。
7.根据权利要求6的制造方法,其中该CrN膜具有70-90原子%的铬含量和10-30原子%的氮含量。
8.根据权利要求1的制造方法,其中该铬系材料膜为单层膜。
9.根据权利要求1的制造方法,其中该铬系材料膜为多层膜。
10.根据权利要求1的制造方法,其中所述反应气体与所述惰性气体的流量比为1~1.5。
11.根据权利要求1的制造方法,其中进一步包含如下步骤:
在至少150℃的温度下对该铬系材料膜热处理至少10分钟。
12.根据权利要求11的制造方法,其中该热处理的温度为300℃以下。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信越化学工业株式会社,未经信越化学工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110229575.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种可调长度的蜜桔粗粮直条米粉截断装置
- 下一篇:光缆生产工艺
- 同类专利
- 专利分类
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备