[发明专利]定位参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种定位参数确定方法，其特征在于，所述方法包括：

基于目标阵列天线获取终端发送的定位信号；

确定预置的与所述目标阵列天线对应的目标空频流型矩阵；其中，所述目标空频流型矩阵是采用所述目标阵列天线对应的相位偏差矩阵对所述目标阵列天线对应的理想空频流型矩阵进行预校正得到的；所述相位偏差矩阵是根据所述目标阵列天线在多个不同空间到达角和多个不同频率下测量的相位偏差确定的，所述理想空频流型矩阵用于表征所述目标阵列天线的各天线阵元在预设阵列覆盖范围内的空间频率响应；

利用所述目标空频流型矩阵和所述定位信号，提取得到所述定位信号对应的空间到达角估计值和延时估计值，所述空间到达角估计值和所述延时估计值用于作为定位参数对所述终端进行位置定位；

其中，所述理想空频流型矩阵的获取过程包括：

获取所述目标阵列天线对应的时域采样点集合，所述时域采样点集合包括多个采样延时值，各所述采样延时值是对所述目标阵列天线对应的延时范围中的全部延时值进行均匀采样得到的：

获取所述目标阵列天线对应的空域采样点集合，并基于所述空域采样点集合以及所述时域采样点集合，生成所述理想空频流型矩阵，所述空域采样点集合覆盖到达角角度范围内的全部空间到达角。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位偏差矩阵的获取过程包括：

获取所述目标阵列天线在所述预设阵列覆盖范围内的各空间到达角和各频率下测量的所述相位偏差；

根据所述相位偏差，获取所述目标阵列天线对应的阵列偏差因子；

对所述阵列偏差因子进行矩阵化处理，得到所述相位偏差矩阵。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述相位偏差包括天线阵元偏差、射频通道偏差以及连接组件偏差；

其中，所述天线阵元偏差包括各所述天线阵元在所述预设阵列覆盖范围内的各空间到达角和各频率下测量的相位偏差；所述射频通道偏差包括所述目标阵列天线对应的射频通道在所述预设阵列覆盖范围内的各频率下测量的相位偏差；所述连接组件偏差包括所述目标阵列天线对应的连接组件在所述预设阵列覆盖范围内的各频率下测量的相位偏差。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述相位偏差，获取所述目标阵列天线对应的阵列偏差因子，包括：

获取所述目标阵列天线对应的空域采样点集合以及子频带数量，所述空域采样点集合包括多个采样到达角，各所述采样到达角是对所述目标阵列天线对应的到达角角度范围中的全部空间到达角进行均匀采样得到的；

根据所述空域采样点集合和所述子频带数量对所述天线阵元偏差进行插值处理，得到插值后的天线阵元偏差，并根据所述子频带数量分别对所述射频通道偏差和所述连接组件偏差进行插值处理，得到插值后的射频通道偏差和插值后的连接组件偏差；

根据所述插值后的天线阵元偏差获取天线偏差因子，并根据所述插值后的射频通道偏差获取射频通道偏差因子，以及根据所述插值后的连接组件偏差获取连接组件偏差因子；

将所述天线偏差因子、所述射频通道偏差因子以及所述连接组件偏差因子进行融合，得到所述阵列偏差因子。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

分别对所述天线阵元偏差、所述射频通道偏差以及所述连接组件偏差进行相位去缠绕处理，得到所述天线阵元偏差对应的第一偏差、所述射频通道偏差对应的第二偏差以及所述连接组件偏差对应的第三偏差；

对应地，所述根据所述空域采样点集合和所述子频带数量对所述天线阵元偏差进行插值处理，得到插值后的天线阵元偏差，并根据所述子频带数量分别对所述射频通道偏差和所述连接组件偏差进行插值处理，得到插值后的射频通道偏差和插值后的连接组件偏差，包括：

根据所述空域采样点集合和所述子频带数量对所述第一偏差进行插值处理，得到所述插值后的天线阵元偏差；

根据所述子频带数量对所述第二偏差进行插值处理，得到所述插值后的射频通道偏差；

根据所述子频带数量对所述第三偏差进行插值处理，得到所述插值后的连接组件偏差。