[发明专利]一种用于单晶硅片表面抛光的抛光液及其制备方法有效
申请号: | 202110227359.2 | 申请日: | 2021-03-01 |
公开(公告)号: | CN113150697B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 胡颖妮 | 申请(专利权)人: | 广州凌玮科技股份有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 杨艳 |
地址: | 511440 广东省广州市番禺区番禺大道北*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 单晶硅 表面 抛光 及其 制备 方法 | ||
1.一种用于单晶硅片表面抛光的抛光液,其特征在于,包括如下重量份的组分:
磨料20份-60份;表面活性剂0.1份-1份;金属螯合剂0.1份-1份;pH值调节剂0.01份-3份;水50份-80份;其中,所述磨料为以铝包覆硅的包覆型复合磨料;
所述表面活性剂为溴化二甲基苄基十二烷基铵、苄基三乙基氯化铵、十六烷基三甲基溴化铵、十二烷基二甲基苄基氯化铵、十六烷基溴代吡啶中的一种或两种以上的组合物;
所述包覆型复合磨料的制备包括如下步骤:
S1:利用水玻璃和铝盐溶液制备硅铝氧化物,在合成过程中保持体系pH值在中性;
S2:向上述硅铝氧化物中加入稀硫酸,调节pH值为2~4,使部分铝物种迁移到粒子表面,然后再经过陈化0.5h~1.5h,接着,冷却至60℃~70℃,过滤,得到滤饼;
S3:依次用浓度为1~3wt%的硫酸和水对滤饼进行洗涤,以降低滤饼中二氧化硅的钠离子和硫酸根的含量;
S4:将洗涤后的滤饼重新分散在少量水中,分散均匀后所得浆料进行喷雾干燥,再经气流粉碎分级,即得。
2.根据权利要求1所述的用于单晶硅片表面抛光的抛光液,其特征在于,所述硅铝氧化物的制备包括如下步骤:
(1)配制二氧化硅浓度为10~20wt%,模数为3.35的水玻璃,待用;
(2)在温度为30℃~60℃条件下,将铝盐溶液与上述水玻璃混合均匀,得到含铝物种的水玻璃;
(3)向反应釜中注水,并升温到步骤(2)中温度,同时加入含铝物种的水玻璃和硫酸溶液,并流,并流时间为30min-90min,且保持体系pH值在中性;
(4)并流完成后,升温到80℃~100℃,并在该温度下保持老化2h,老化后,即得硅铝氧化物。
3.根据权利要求1所述的用于单晶硅片表面抛光的抛光液,其特征在于,所述铝盐溶液为硫酸铝溶液、硝酸铝溶液、氯化铝溶液中的一种或两种以上的组合物。
4.根据权利要求1所述的用于单晶硅片表面抛光的抛光液,其特征在于,所述铝盐溶液中铝和所述水玻璃中硅的摩尔比为0.05~1:1。
5.根据权利要求1所述的用于单晶硅片表面抛光的抛光液,其特征在于,所述金属螯合剂为三乙醇胺、乙二胺四乙酸、氨基三乙酸、柠檬酸铵中的一种或两种以上的组合物;所述pH值调节剂为柠檬酸、乳酸、酒石酸、丙二酸、丁二酸、2-膦酸丁烷-1,2,4-三羧酸、羟基亚乙基二膦酸、氨基三亚甲基磷酸中的一种或两种以上的组合物;所述水为去离子水。
6.根据权利要求1所述的用于单晶硅片表面抛光的抛光液,其特征在于,所述磨料与所述水的质量比为1:1-3。
7.一种如权利要求1-6中任一项所述的用于单晶硅片表面抛光的抛光液的制备方法,其特征在于,包括如下制备步骤:
将表面活性剂、金属螯合剂加入到水中,搅拌均匀,然后边搅拌边加入磨料,使磨料充分分散,最后加入pH值调节剂,调节溶液pH值为中性或者弱碱性,即得。
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