[发明专利]一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器有效
| 申请号: | 202110222735.9 | 申请日: | 2021-02-26 |
| 公开(公告)号: | CN112992863B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
| 发明(设计)人: | 李婷;唐磊;杨靓;时光;何杰;崔双韬;张先娆;徐晚成;李海松;张曼;曹天骄;袁昕 | 申请(专利权)人: | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号: | H01L23/538 | 分类号: | H01L23/538;H01L31/02;H01L25/065;H01L27/144 |
| 代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陈翠兰 |
| 地址: | 710065 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 覆盖 可见光 波段 红外 光电 探测器 | ||
1.一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,包括光电探测器本体,所述光电探测器本体包括靠近光线由顶至底设置的第一晶圆(1)、第二晶圆(2)和第三晶圆(3);所述第一晶圆(1)、第二晶圆(2)和第三晶圆(3)依次叠加设置;所述第一晶圆(1)上装配有若干个可见光像元和读出电路;所述第二晶圆(2)上装配有若干个红外读出电路;所述第三晶圆(3)上装配有若干个红外像元阵列;第一晶圆(1)与第二晶圆(2)硅片键合设置,所述第三晶圆(3)通过第一晶圆(1)与第二晶圆(2)硅片键合后互联设置,实现可见光波段图像和红外波段图像的探测。
2.根据权利要求1所述的一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,所述第一晶圆(1)和第二晶圆(2)均为硅基CMOS晶圆,第一晶圆(1)和第二晶圆(2)采用氧化物-氧化物的化学键互联,断键互联工艺。
3.根据权利要求2所述的一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,所述氧化物-氧化物键合机理为第一晶圆(1)和第二晶圆(2)表面的SiO2表面的Si-O键以及H2O分子的H-O在进入键合机台前会被等离子体打断,使得表面产生非常多的悬挂键,进入键合机台后,机台会对第一晶圆(1)和第二晶圆(2)的硅片设有贴合力,用于将第一晶圆(1)和第二晶圆(2)的硅片结合,使得第一晶圆(1)和第二晶圆(2)的硅片表面的Si-O键重新结合。
4.根据权利要求1所述的一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,所述第三晶圆(3)采用非硅基红外感光材料;第三晶圆(3)通过第一晶圆(1)与第二晶圆(2)硅片键合后采用铟柱互联设置。
5.根据权利要求1所述的一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,所述红外像元的读出电路硅片上设有1-2μm的钝化层开孔,用于实现铟注入顶层铝中,实现电气互联。
6.根据权利要求1所述的一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,所述光电探测器本体采用硅通孔TSV技术刻蚀硅层,通过金属连接将第一晶圆(1)和第二晶圆(2)的压焊点PAD均引出至最顶层,易于实现器件封装。
7.根据权利要求1所述的一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,所述光电探测器本体采用片外处理技术,完成两种谱段数据融合,实现高动态范围成像。
8.根据权利要求1所述的一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,其特征在于,所述光电探测器本体的探测范围为350nm~3μm波长。
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