[发明专利]一种基于芯片化保护装置的采样方法及系统

权利要求书

1.一种基于芯片化保护装置的采样方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

S1、接收主机下发的第一报文；

S2、根据所述第一报文的接收时刻Ta和配置文件中存储的延时时间t，计算得到主机要求的同步采样时刻Ts；

S3、计算所述同步采样时刻Ts对应的采样值V；

S4、基于所述采样值V构造第二报文；

S5、将所述第二报文发送给主机。

2.根据权利要求1所述的基于芯片化保护装置的采样方法，其特征在于，所述第一报文的特征信息包括数据编号和采样启动命令。

3.根据权利要求1所述的基于芯片化保护装置的采样方法，其特征在于，采用如下公式，计算同步采样时刻Ts：

Ts＝Ta-t

其中，Ta为子机接收第一报文的时刻；t为子机的配置文件中存储的第一报文到达子机的延时时间。

4.根据权利要求1所述的基于芯片化保护装置的采样方法，其特征在于，采用插值法计算所述同步采样时刻Ts对应的采样值V，计算公式如下：

其中，X₁为子机在T₁时刻的采样值；X₂为子机在T₂时刻的采样值；Ts为主机要求的同步采样时刻。

5.根据权利要求1所述的基于芯片化保护装置的采样方法，其特征在于，所述第二报文的特征信息包括数据编号、子机编号以及n个子机采样通道数据，其中n为该子机所具有的采样通道的总个数。

6.一种基于芯片化保护装置的采样系统，其特征在于，包括主机以及与所述主机通信连接的多个子机；所述主机包括第一收发模块；所述子机包括采样模块、存储模块、第二收发模块以及运算处理模块；

所述第一收发模块，配置用于在同一时刻向各所述子机发送第一报文；

所述第二收发模块，配置用于接收所述第一报文；

所述存储模块，配置用于存储所述第一报文到达子机的延时时间；

所述采样模块，配置用于控制子机按照自身采样频率进行采样并得到采样数据；

所述运算处理模块，配置用于根据所述第一报文以及所述延时时间计算主机要求的同步采样时刻；

所述运算处理模块，还配置用于根据所述同步采样时刻以及所述采样数据计算得到同步采样时刻对应的采样值；

所述运算处理模块，还配置用于根据所述采样值构造得到第二报文；

所述第二收发模块，还配置用于将所述第二报文发送至主机。

7.根据权利要求6所述的基于芯片化保护装置的采样系统，其特征在于，所述第一报文的特征信息包括数据编号和采样启动命令。

8.根据权利要求6所述的基于芯片化保护装置的采样系统，其特征在于，所述第二报文的特征信息包括数据编号、子机编号以及n个子机采样通道数据，其中n为该子机所具有的采样通道的总个数。