[发明专利]一种具有凹陷沟槽的场效应晶体管在审
申请号: | 202110219297.0 | 申请日: | 2021-02-26 |
公开(公告)号: | CN113035956A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 柴力 | 申请(专利权)人: | 中之半导体科技(东莞)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423 |
代理公司: | 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙) 44400 | 代理人: | 姜华 |
地址: | 523430 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 凹陷 沟槽 场效应 晶体管 | ||
本发明系提供一种具有凹陷沟槽的场效应晶体管,包括衬底,衬底上层叠有外延层、沟道掺杂层、源极层和源极金属层,衬底下设有漏极金属层,外延层中设有贯穿沟道掺杂层、源极层和源极金属层的凹槽;凹槽的底部设有位于外延层中的保护层,保护层呈U形包裹于凹槽的底部;凹槽中填充有栅极电介质层,栅极电介质层中设有栅极沉积层,栅极沉积层的底部设有抗击层,栅极沉积层中设有栅极金属层,栅极金属层、栅极沉积层和栅极电介质层的顶面共面。本发明栅极区域对导电沟道的调节迅速且可靠,具有低介电常数的抗击层具有良好的强电场抵抗能力,保护层与外延层之间形成的PN结可削弱抗击层处形成的电场,整体结构耐压性能好。
技术领域
本发明涉及场效应晶体管,具体公开了一种具有凹陷沟槽的场效应晶体管。
背景技术
场效应晶体管属于电压控制型半导体器件,具有输入电阻高、噪声小、功耗低、动态范围大、易于集成、没有二次击穿、安全工作区域宽等优点,场效应晶体管可应用于开关器件。
如图1所示,传统的场效应晶体管为以下结构:在衬底中设置两个间隔的漏极和源极,栅极设置于漏极和源极之间的上方,栅极与衬底之间设置金属氧化物层以确保绝缘性能,衬底分别与漏极和源极的导电型极性相反,漏极和源极之间的衬底中可形成导电沟道,但这种结构的场效应晶体管阻抗较大,为降低阻抗,部分场效应晶体管设置栅极陷入到衬底中,但这种场效应晶体管的栅极容易被击穿而导致失效。
发明内容
基于此,有必要针对现有技术问题,提供一种具有凹陷沟槽的场效应晶体管,具有较高的抗击穿电压,整体结构稳定可靠,使用寿命长。
为解决现有技术问题,本发明公开一种具有凹陷沟槽的场效应晶体管,包括衬底,衬底上依次层叠有外延层、沟道掺杂层、源极层和源极金属层,沟道掺杂层和源极层的厚度之和为D,衬底下设有漏极金属层,外延层中设有贯穿沟道掺杂层、源极层和源极金属层的凹槽;
凹槽的底部设有位于外延层中的保护层,保护层呈U形包裹于凹槽的底部,保护层与沟道掺杂层之间形成有间隔;
凹槽中填充有栅极电介质层,栅极电介质层中设有栅极沉积层,栅极沉积层的底部设有抗击层,栅极沉积层中设有栅极金属层,栅极金属层、栅极沉积层和栅极电介质层的顶面共面,栅极金属层的高度为H,HD;
栅极电介质层的介电常数大于10,抗击层的介电常数小于4;
衬底、外延层和源极层均为掺杂有第一导电型离子的半导体材料层,沟道掺杂层和保护层均为掺杂有第二导电型离子的半导体材料层,第一导电型和第二导电型的极性相反。
进一步的,衬底、外延层和源极层均为掺杂有磷离子的单晶硅层,沟道掺杂层和保护层均为掺杂有硼离子的单晶硅层。
进一步的,保护层的宽度为R,凹槽的宽度为L,1.2L≤R≤1.8L。
进一步的,栅极电介质层为氧化镧层或二氧化钛层。
进一步的,栅极沉积层为氮化钛层或氮化钽层。
进一步的,栅极沉积层的底部为向下收窄的圆台状。
进一步的,抗击层为二氧化硅层或PTFE层。
进一步的,栅极金属层为钨层或铝层。
本发明的有益效果为:本发明公开一种具有凹陷沟槽的场效应晶体管,通过将栅极区域设置在凹槽中,可有效降低场效应晶体管的阻抗,栅极区域对导电沟道的调节迅速且可靠,此外,具有低介电常数的抗击层具有良好的强电场抵抗能力,可有效提高抗击穿电压,保护层与外延层之间形成的PN结可削弱抗击层处形成的电场,能够进一步提高抗击穿电压,整体结构耐压性能好、稳定性强,使用寿命长。
附图说明
图1为传统场效应晶体管的结构示意图。
图2为本发明的结构示意图。
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