[发明专利]一种区分黑磷晶轴的方法、装置、终端设备及存储介质

说明书

本申请适用于半导体材料技术领域，提供了一种区分黑磷晶轴的方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中在平行偏振配置下测试黑磷样品的拉曼光谱信息；根据上述拉曼光谱信息确定上述黑磷样品偏振拉曼响应的两个主轴方向；确定每个主轴方向对应的拉曼强度比，根据上述拉曼强度比确定上述黑磷样品的晶轴，从而准确便捷地判断出黑磷晶轴。

技术领域

本申请属于半导体材料技术领域，尤其涉及一种区分黑磷晶轴的方法、装置、终端设备及存储介质。

背景技术

随着2004年石墨烯的成功制备，二维材料引起了研究人员的广泛关注。二维材料可按照晶格结构的对称性划分为具有高对称晶格结构的各向同性体系(如石墨烯、二硫化钼等)和各向异性体系(如黑磷、碲化镓、二硫化铼等)。相较于各向同性层状材料，各向异性层状材料以其独特的各向异性的面内晶格结构在电学、光学、热学、力学等多种物理性质上具有更高的自由度，并在各向同性二维材料无法实现的偏振分辨的新型器件领域具有无可替代的地位。

而属于各向异性层材料的黑磷具有超高的室温载流子迁移率和在可见波段至近红外波段可调的直接带隙，致使其不仅为二维材料的基础研究提供了绝佳平台，还在电子和光电子器件应用中展现出巨大潜力，从而黑磷在各向异性层状材料中脱颖而出。

一般在研究各向异性层状材料的物理性质时，需将其与其内部相应的晶轴联系起来。而现有技术一般是通过测量角度依赖的直流电导来判断黑磷中的晶轴，该方法需对黑磷进行微纳加工制作电极，但复杂的制作过程会导致耗时长以及操作难度大，并且该方法需对黑磷进行加工，故将导致该黑磷的其他物理性质与应用的研究被极大的限制，以及得到的分辨率(直流电导值的数目)受限于电极数目，进而造成该方法有很大的局限性。因此，如何准确便捷地判断黑磷晶轴成为当下的重中之重。

发明内容

本申请实施例提供了一种区分黑磷晶轴的方法、装置、终端设备及存储介质，可以解决现有技术无法准确便捷地判断黑磷晶轴问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种区分黑磷晶轴的方法，包括：

在平行偏振配置下测试黑磷样品的拉曼光谱信息；

根据上述拉曼光谱信息确定上述黑磷样品偏振拉曼响应的两个主轴方向；

确定每个主轴方向对应的拉曼强度比，根据上述拉曼强度比确定上述黑磷样品的晶轴。

第二方面，本申请实施例提供了一种区分黑磷晶轴的装置，包括：

测试模块，用于在平行偏振配置下测试黑磷样品的拉曼光谱信息；

主轴确定模块，用于根据上述拉曼光谱信息确定上述黑磷样品偏振拉曼响应的两个主轴方向；

晶轴确定模块，用于确定每个主轴方向对应的拉曼强度比，根据上述拉曼强度比确定上述黑磷样品的晶轴。

第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在上述存储器中并可在上述处理器上运行的计算机程序，上述处理器执行上述计算机程序时实现上述任一种区分黑磷晶轴的方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质存储有计算机程序，上述的计算机程序被处理器执行时实现上述任一种区分黑磷晶轴的方法的步骤。

第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面中任一种区分黑磷晶轴的方法。

本申请实施例通过利用平行偏振配置来测试黑磷样品的拉曼光谱信息，从而提高了拉曼光谱信息的采集效率，根据上述拉曼光谱信息确定上述黑磷样品偏振拉曼响应的两个主轴方向，再确定出每个主轴方向对应的拉曼强度比，通过根据上述两个主轴方向对应的拉曼强度比确定上述黑磷样品的晶轴，从而准确便捷地判断出黑磷晶轴。

附图说明