[发明专利]检测电路、显示面板、显示装置和显示面板的驱动方法在审
申请号: | 202110214000.1 | 申请日: | 2021-02-25 |
公开(公告)号: | CN112992026A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 欧阳珺婷;林柏全;孔祥梓;吕博嘉 | 申请(专利权)人: | 厦门天马微电子有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/3225;G09G3/3275 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 361101 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 电路 显示 面板 显示装置 驱动 方法 | ||
1.一种检测电路,其特征在于,包括第一光通道和发光检测晶体管,所述发光检测晶体管的第一端与检测信号端电连接,所述发光检测晶体管的第二端与基准电压信号端电连接;所述发光检测晶体管在显示面板处于发光阶段时通过所述第一光通道接收显示面板中发光元件发出的光,并输出检测漏电流至所述检测信号端。
2.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,还包括第一扫描信号端,所述发光检测晶体管的栅极与所述第一扫描信号端电连接;当所述基准电压信号端提供基准电压时,所述第一扫描信号端提供第一截止电压,所述第一截止电压和所述基准电压差值大于第一预设值;在所述第一预设值下,所述发光检测晶体管的漏电流为检测极限值。
3.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述发光检测晶体管有源层包括沟道区和重掺杂区,且所述沟道区与所述重掺杂区直接接触。
4.一种显示面板,其特征在于,包括权利要求1-3任一项所述的检测电路,还包括像素电路,所述像素电路包括:发光元件、驱动晶体管和数据写入模块;
所述数据写入模块用于在数据写入阶段将数据信号写入至所述驱动晶体管的栅极;
所述驱动晶体管用于根据所述数据信号产生驱动电流,并在发光阶段流入所述发光元件,控制所述发光元件进行发光;
所述显示面板还包括衬底基板,所述发光检测晶体管位于所述衬底基板的一侧;
所述发光元件位于所述发光检测晶体管背离所述衬底基板一侧。
5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述像素电路还包括数据信号端,所述发光检测晶体管设置在所述数据信号端和所述数据写入模块之间;
所述数据信号端复用为所述检测信号端。
6.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述像素电路还包括栅极初始化模块和/或发光元件初始化模块;所述栅极初始化模块设置在第一初始化信号端和所述驱动晶体管的栅极之间;所述发光元件初始化模块设置在第二初始化信号端和所述发光元件之间;
所述发光检测晶体管设置在所述第一初始化信号端和所述栅极初始化模块之间,所述第一初始化信号端复用为所述检测信号端;或者,所述发光检测晶体管设置在所述第二初始化信号端和所述发光元件初始化模块之间,所述第二初始化信号端复用为所述检测信号端。
7.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述发光元件包括在衬底基板上依次层叠设置的第一电极层、像素限定层、发光功能层和第二电极层;
所述像素限定层包括多个开口区,所述开口区露出部分所述第一电极层;
所述第一电极层包括通孔,所述通孔在所述衬底基板上的垂直投影与所述发光检测晶体管在所述衬底基板上的垂直投影具有交叠。
8.根据权利要求7所述的显示面板,其特征在于,所述通孔在所述衬底基板的垂直投影位于所述开口区在所述衬底基板的垂直投影内;且所述通孔内填充所述像素限定层,所述发光功能层至少位于所述第一电极层以及所述通孔中的像素限定层的表面。
9.根据权利要求7所述的显示面板,其特征在于,所述第一电极层包括与所述开口区交叠的空穴产生部和围绕所述空穴产生部且与所述开口区不交叠的工艺窗口部;所述通孔在所述衬底基板的垂直投影位于所述工艺窗口部在所述衬底基板的垂直投影内。
10.根据权利要求7所述的显示面板,其特征在于,所述通孔在所述衬底基板的垂直投影为长条形;且所述长条形包括长轴和短轴;
所述发光检测晶体管沟道的延伸方向垂直于所述通孔长轴的延伸方向。
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